[发明专利]一种掺杂氧化石墨烯检测方法在审
| 申请号： | 201811573879.3 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109342483A | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 李星;刘长虹;蔡雨婷;漆长席 | 申请（专利权）人： | 四川聚创石墨烯科技有限公司;大英聚能科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2273 | 分类号： | G01N23/2273;G01N21/65 |
| 代理公司： | 成都中玺知识产权代理有限公司 51233 | 代理人： | 熊礼;邢伟 |
| 地址： | 610036 四川省遂宁*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 氧化石墨烯 掺杂 蓝移 判定 检测 掺杂元素 结合能 结合能位置 拉曼光谱图 拉曼光谱 红移 分析 | ||
1.一种掺杂氧化石墨烯检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：
获取待测掺杂氧化石墨烯的X射线光电子能谱图，利用除C 1S峰和O lS峰之外出现的新峰及新峰对应的结合能确定掺杂元素种类，并根据新峰对应的结合能大小判定掺杂氧化石墨烯的掺杂方式为晶格掺杂或吸附掺杂；
获取待测掺杂氧化石墨烯的拉曼光谱图，判定待测掺杂氧化石墨烯为n型掺杂或p型掺杂，判定方法包括：
在G峰蓝移，且G'峰红移的情况下，判定掺杂氧化石墨烯的掺杂方式为n型掺杂；在G峰蓝移，且G'峰蓝移的情况下，判定掺杂氧化石墨烯的掺杂方式为p型掺杂；
或者判定方法包括：
随待测掺杂氧化石墨烯科恩异常效应减弱，在G峰向高波数位移，且G'峰向低波数位移的情况下，判定掺杂氧化石墨烯的掺杂方式为n型掺杂；在G峰向高波数位移，且G'峰向高波数位移的情况下，判定掺杂氧化石墨烯的掺杂方式为p型掺杂。
2.根据权利要求1所述的掺杂氧化石墨烯检测方法，其特征在于，所述获取待测掺杂氧化石墨烯的X射线光电子能谱图的步骤包括根据出现的新峰面积之比确定掺杂元素含量。
3.根据权利要求1所述的掺杂氧化石墨烯检测方法，其特征在于，所述获取待测掺杂氧化石墨烯的X射线光电子能谱图的步骤包括对新峰进行分峰拟合，确定掺杂元素化学键构型种类。
4.根据权利要求3所述的掺杂氧化石墨烯检测方法，其特征在于，根据所述对新峰进行分峰拟合后的子峰对应的面积之比，确定掺杂元素化学键构型的百分含量以及确定掺杂元素是否以化合态形式存在。
5.根据权利要求1所述的掺杂氧化石墨烯检测方法，其特征在于，所述掺杂氧化石墨烯的掺杂元素包括氮、磷和硫中的至少一种。
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