[发明专利]光学相干层析成像装置和用于该装置的光源装置

说明书

本发明提供一种光学相干层析成像装置和用于该光学相干层析成像装置的光源装置。光学相干层析成像装置拍摄受检眼的光学层析图像。光学相干层析成像装置具有波长扫描型的光源装置和测定光学系统，该测定光学系统向受检眼照射从光源装置输出的光。当设从光源装置向受检眼照射的光的直径为D，设光源装置的波长扫描频率为S，设从光源装置向受检眼照射的光的中心波长为λ时，不等式D/S×λ＞1.61成立。据此，能够提高从受检眼的视网膜反射的光的信号强度。

技术领域

本说明书所公开的技术涉及一种光学相干层析成像装置(optical coherencetomographic device)和用于该光学相干层析成像装置的光源装置(light source：光源)。

背景技术

开发出一种测定受检眼的眼轴长度、受检眼内的各部位的位置等的光学相干层析成像装置。例如，专利文献1的光学相干层析成像装置具有：测定光学系统，其向受检眼的内部照射来自光源的光且引导其反射光；和参照光学系统，其向参照面照射来自光源的光且引导其反射光。在测定时，根据对由测定光学系统引导的反射光和由参照光学系统引导的反射光进行合成得到的干涉光来确定受检眼内部的对象部位的位置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本发明专利公开公报特开2017-176842号

发明内容

【发明要解决的技术问题】

在如专利文献1所记载的光学相干层析成像装置中，通常向受检眼照射具有1～2mm左右的比较小的直径的光。然而，例如当由于白内障等而在受检眼的晶状体中有混浊部位时，有时从光源装置照射到受检眼的光在混浊部位衰减，到达视网膜的光量减少。其结果，存在难以检测到来自视网膜的反射光，由此难以测定视网膜的位置、眼轴长度等的问题。本说明书公开了能够提高从受检眼的视网膜反射的光的信号强度的技术。

【用于解决技术问题的技术方案】

本说明书所公开的第1技术方案的光学相干层析成像装置拍摄受检眼的光学层析图像。光学相干层析成像装置具有波长扫描型(wavelength sweeping type)的光源装置和测定光学系统，其中，所述测定光学系统向受检眼照射从光源装置输出的光。在设从光源装置向受检眼照射的光的直径为D，设光源装置的波长扫描频率(wavelength sweptfrequency)为S，设从光源装置向受检眼照射的光的中心波长为λ时，不等式D/S×λ＞1.61成立。

在上述光学相干层析成像装置中，通过向受检眼照射满足上述条件的光，能够提高信号的接收灵敏度。因此，能够以高灵敏度来获取来自视网膜的反射光的信号。

另外，本说明书所公开的光源装置是波长扫描型的光源装置，其被装配于拍摄受检眼的光学层析图像的光学相干层析成像装置，输出被向受检眼照射的光。光源装置构成为，当设被向受检眼照射的光的直径为D，设波长扫描频率为S，设中心波长为λ时，能够以使D/S×λ＞1.61成立的方式来调整波长扫描频率S和中心波长λ中的至少一方。

在上述光源装置中，能够调整波长扫描频率S和中心波长λ中的至少一方，以向受检眼照射满足上述条件的光。因此，能够发挥与上述的光学相干层析成像装置同样的作用效果。

另外，本说明书所公开的第2技术方案的光学相干层析成像装置拍摄受检眼的光学层析图像。光学相干层析成像装置具有波长扫描型的光源装置和测定光学系统，其中，所述测定光学系统向受检眼照射从光源装置输出的光。从光源装置向受检眼照射的光的直径D成为3mm以上。

在上述光学相干层析成像装置中，向受检眼照射的光的直径D成为3mm以上，因此，能够增多到达视网膜的光。因此，即使在受检眼的晶状体上有混浊部位，也能够获得来自视网膜的反射光的信号。

附图说明