[发明专利]一种综合检测碳材料的方法

权利要求书

1.一种综合检测碳材料的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

从碳材料分出第一样品、第二样品，对第一样品进行X射线衍射测试，得到X射线衍射图谱，对第二样品进行傅里叶变换红外光谱分析测试，得到红外光谱图；

根据所述X射线衍射图谱判断碳材料的片层是否发生剥离，根据所述红外光谱图判断碳材料是否具有含氧官能团，若判定结果为碳材料的片层间发生剥离、且具有含氧官能团，则所述碳材料为氧化石墨烯，在判定所述碳材料为氧化石墨烯的情况下，确定所述碳材料上官能团的种类和数量、以及碳材料的层数，其中，

所述判定碳材料的片层是否发生剥离的步骤包括：根据所述X射线衍射图谱，获得第一样品的晶体参数，进而得到第一样品的晶面间距，若第一样品的晶面间距大于石墨的晶面间距，且与石墨的X射线衍射图谱相比，所述X射线衍射图谱上出现新的衍射峰，则断定碳材料的片层间发生剥离，否则不能确定碳材料的片层间发生剥离；

所述判定碳材料是否具有含氧官能团的步骤包括：在所述红外光谱图上查找中红外区，根据所述中红外区上的吸收峰来判定所述碳材料是否具有含氧官能团；

所述确定碳材料上官能团的种类和数量的步骤包括：从碳材料分出第三样品，对第三样品进行X射线光电子能谱分析测试，得到碳材料的X射线光电子能谱图，根据所述红外光谱图和所述能谱图确定碳材料上官能团的种类和数量。

所述确定碳材料层数的步骤包括：从碳材料分出第四样品，对第四样品进行拉曼光谱测试，获得拉曼光谱图，根据拉曼光谱图计算I_G/I_2D，当I_G/I_2D小于1.0时，初步判断碳材料为单层或双层结构；当I_G/I_2D为1.0～1.5时，初步判断碳材料为3层或4层结构；当I_G/I_2D大于1.5时，初步判断碳材料为5层以上结构，其中，所述I_G表示G峰强度，所述I_2D表示2D峰强度。

2.根据权利要求1所述的综合检测碳材料的方法，其特征在于，所述确定碳材料上官能团种类的步骤包括：将所述中红外区上吸收峰所对应的波数与红外光谱数据库进行比对，确定所述碳材料上官能团的种类；

所述确定碳材料上官能团数量的步骤包括：根据结合能的大小判断所述能谱图上各个峰对应的元素，通过灵敏度因子对各元素所对应峰的峰强进行修正，通过修正后各元素所对应峰峰强之间的比值得到各元素的相对含量比，根据所述相对含量比，确定所述碳材料上官能团的数量。

3.根据权利要求1所述的综合检测碳材料的方法，其特征在于，在初步判断所述碳材料为单层或双层结构的情况下，从所述碳材料中分出第五样品，利用原子力显微镜对第五样品进行测试，以确定所述碳材料为单层或双层结构；

在初步判断所述碳材料为3层或4层结构的情况下，计算所述拉曼测试结果拉曼光谱图的2D峰拟合的洛伦兹力峰数，分辨碳材料为3层或4层结构；

在初步判断所述碳材料为5层以上结构的情况下，从所述碳材料中分出第六样品，通过高分辨率透射电镜获取第六样品的电子显微图像，观察确定所述碳材料具体层数。

4.根据权利要求1所述的综合检测碳材料的方法，其特征在于，所述初步判断碳材料为单层或双层结构的步骤可包括：当所述2D峰的半高宽为28cm^-1～32cm^-1且I_G/I_2D峰的强度之比小于0.7时，初步判断碳材料为单层结构；当所述2D峰的半高宽为48cm^-1～52cm^-1且I_G/I_2D峰的强度之比为大于等于0.7小于1.0时，初步判断碳材料为双层结构。

5.根据权利要求1所述的综合检测碳材料的方法，其特征在于，所述碳材料为按照氧化石墨烯制备方法而得到的产物，或者为按照还原氧化石墨烯制备方法而得到的产物。