[发明专利]一种测试数据通路的uvm验证系统在审

专利信息
申请号: 201811574401.2 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109670246A 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 张楠;肖佐楠;郑茳 申请(专利权)人: 天津国芯科技有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 代理人: 杨慧玲
地址: 300457 天津市滨海新区开发*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 验证系统 测试数据 事务单元 验证 数据处理单元 激励生成器 标准模型 监控模块 驱动模块 验证模块 总线模型 记分板 搬运 兼容
【说明书】:

发明提供了一种测试数据通路的uvm验证系统,包含testcase环境和testbench环境,所述Testcase环境包括scoreboard记分板和若干agent事务单元,每个所述agent事务单元均包含sequencer激励生成器、driver驱动模块和monitor监控模块;所述Testbench环境包含DUT待验证模块和VIP验证模型。相对于现有技术,本发明具有以下优势:本发明提出了针对不会改变其所搬运数据的值的DUT的验证系统,无需reference model标准模型,结构简单,易实现;VIP验证模型无需相应的数据处理单元,只为一个兼容DUT的总线模型,极大的提高了验证工作的效率。

技术领域

本发明属于集成电路功能测试技术领域,尤其是涉及一种一种测试数据通路的uvm验证系统。

背景技术

UVM全称为通用验证方法论,在硬件开发过程中,验证是十分重要的环节。UVM是一个通用验证平台,基于它,我们可以产生复杂、大量、可定制化的随机激励,并可以提高大型验证工程的协作性和扩展性。将激励信号传入DUT(待验证模块),然后观察输出波形,或者查看输出结果,是否和预期的一致,通过这样的过程进行硬件的验证。

针对不会改变其所搬运数据的值的DUT的验证,通用的验证平台比较复杂。

发明内容

有鉴于此,本发明旨在提出一种测试数据通路的uvm验证系统,以针对不会改变其所搬运数据的值的DUT的验证,结构简单,易实现。

为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:

一种测试数据通路的uvm验证系统,包含testcase环境和testbench环境,

所述Testcase环境包括scoreboard记分板和若干agent事务单元,所述agent事务单元均包含sequencer激励生成器、driver驱动模块和monitor监控模块;所述Testbench环境包含DUT待验证模块和VIP验证模型;

由agent事务单元的sequencer生成激励并通过其driver和monitor分别传输给DUT待验证模块和scoreboard记分板;

激励传输到DUT待验证模块后,作为第一总线数据被DUT待验证模块接收,经过DUT待验证模块的接收通路传输到第二总线数据,再通过VIP测试模型的缓存之后通过第三总线数据返回DUT待验证模块的发送通路传输到第四总线数据,将第二总线数据和第四总线数据作为DUT待验证模块的输出,被monitor监控模块收集,monitor监控模块将收集的实际输出数据传递给scoreboard记分板。

进一步的,所述VIP验证模型为总线模型。

相对于现有技术,本发明具有以下优势:

(1)本发明提出了针对不会改变其所搬运数据的值的DUT的验证系统,无需reference model标准模型,结构简单,易实现;

(2)本发明VIP验证模型无需相应的数据处理单元,只为一个兼容DUT的总线模型,极大的提高了验证工作的效率。

附图说明

构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:

图1为本发明实施例所述系统的原理框图。

具体实施方式

需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

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