[发明专利]显示面板及显示装置有效
申请号: | 201811577718.1 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109375442B | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 柴立 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 显示装置 | ||
本发明的提供了一种显示面板及其显示装置,其中所述显示面板包括显示区和胶框区,所述胶框区范围为两条胶框边缘线包围而成。在所述胶框区与面板切割线设置有彩膜基板公共信号线;在所述胶框区内还包括多条时钟信号线,所述时钟信号线平行分布与所述胶框线包围的胶框区,用于连接显示区的信号线;信号线垂直于所述时钟信号线,所述信号线平行分布,每一根信号线对应连接所述时钟信号线。从而达到屏蔽ESD测试的时候的电弧,避免静电电弧损伤到内部胶框区的时钟信号线。
技术领域
本发明涉及液晶显示器领域,尤其涉及一种显示面板及显示装置。
背景技术
随着信息社会的发展,人们对显示设备的需求得到了增长,因而也推动了液晶面板行业的快速发展。客户对液晶电视的要求和品味也越来越高,也对面板信赖性测试的方法也越来越苛刻。
已知,阵列基板或LCD面板模组在出货前都会进行ESD(Electro-Staticdischarge test)测试,也就是静电释放测试,用以评估其耐静电的性能。如图1所示,其为用高压静电枪放电击打测试面板边框11上的静电打击点13,根据其击穿结果从而评估测试面板的耐静电能力。
进一步的,因为考虑成本原因,目前GOA(chip on array)产品越来越广泛,而GOA产品的耐静电能力相对较弱,因此,其边框多会采用金属材质用于把静电导走,不会损伤到面板。如果边框11采用非导电的胶框,静电就会传导到显示面板内,导致显示面板GOA区损伤而出现画面异常。尤其是对于窄边框的GOA显示面板,其框胶会与GOA时钟信号线重叠设计,当进行 ESD测试用高压静电枪击打胶框上的测试点的时候,静电电弧会被导到面板内的发生概率很高,从而导致面板显示画面异常。
如图2所示,其图示了一种业界常见的GOA型显示面板。其中21为面板边缘(切割线),22为框胶边缘,23~28为GOA CK信号线,29为彩膜基板公共信号线,30为ESD测试中容易被静电电弧击伤的过孔ITO。
其中目前业界常见的GOA型显示面板,其GOA侧外围走线从面内到面外的顺序是:VSSG-VSSQ-LC1-LC2-CK1-CK2-CK3-CK4-CK5-CK6-CF COM,其中除了CF COM在GOA侧无需引线到面内外(不需要开孔引线),其他信号线都需要开孔引线到面内,过孔上覆盖ITO导电膜,而上板CF基板是整面 ITO导电膜,所以在ESD测试过程中,静电电弧会直接导到上板CF基板的 ITO上,因为液晶盒厚度一般在3.0um~3.8um左右,所以电弧很容易从上板ITO 跨过中间介质击伤到阵列基板侧的ITO,这样就会导致阵列基板上的过孔导电异常,因此时钟信号就无法正常传送面内,从而出现画面异常。
例如,如图3~4所示,其图示了待测试显示面板进行ESD测试时的状态示意图。其中31为阵列基板,32为GOA时钟信号走线上的ITO膜,33为CF 基板,34为ITO膜,35为框胶,36为模组边框,37为ESD静电枪放电,会导致释放的电流通过上板ITO传导再击伤阵列基板CK信号线上的ITO膜。
因此,确有必要开发一种新型的显示面板,来克服现有技术中的缺陷。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种显示面板,可以有效解决其在进行ESD 过程中出现的静电弧损伤时钟信号走线的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种显示面板,包括依次相连的显示区、胶框区和边缘区,其中在所述边缘区设置有彩膜基板公共信号线,其中所述彩膜基板公共信号线包括依次设置的第一金属走线、绝缘层、第二金属走线、钝化层、平坦层以及ITO层;其中所述平坦层向下凹陷穿过所述钝化层和绝缘层直至所述第一金属表面形成有第一过孔,所述ITO层通过所述第一过孔与所述第一金属走线电性连接。所述平坦层还向下凹陷穿过所述钝化层直至所述第二金属层表面形成有第二过孔,所述ITO层通过所述第二过孔与所述第二金属走线电性连接。
进一步地,第一金属走线通过所述ITO层与所述第二金属走线电性连接。
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