[发明专利]一种电压采样电路

说明书

本发明涉及电子电路设计领域，尤其涉及一种电压采样电路，用于采样变压器的输出电压，还包括辅助绕组、第一电容、第二电容、第一电阻、第二电阻、第一二极管和采样芯片；所述辅助绕组与变压器的副边绕组对应设置，所述采样芯片通过第二电阻与副边绕组电连接；增加一辅助绕组，并且将采样芯片的检测引脚改为与辅助绕组电连接以检测辅助绕组的电压，当输出电压较大时，通过辅助绕组与副边绕组的匝数比的换算，使得辅助绕组上输出电压小于原始副边绕组的输出电压，进而使之既能保证正常采样不受影响，同时还能保证采样芯片的检测引脚电压在规格范围之内。

技术领域

本发明涉及电子电路设计领域，尤其涉及一种电压采样电路。

背景技术

在目前开关电源产品中，小体积已经成为发展趋势。芯片的集成化越来越高。已经有越来越多的电源芯片厂家将电压基准源与控制芯片集成到一起，在使用反激拓扑电路时，由于电路在工作过程中电压存在一个反激变换的过程，初次级都要承受一个较高的电压。同时，由于所需的输出电压的升高，次级所需的反激电压更高。而对于一些高集成的芯片方案，次级采样引脚的电压都不高，在应用很高的输出电压时往往受到限制，因此需要通过方式来保证采样引脚电压是足够的。例如PI的INNO系列芯片，次级是通过FWD脚来采集次级电压，以实现反馈。但是FWD脚电压只有150V，按照反激变压器设计经验，如果直接用FWD脚来采集次级电压，那么次级输出电压只能设计到最高不超过24V。而对于实际的工业应用或通讯场合，往往需要36V或48V的电压，这个时候会影响到产品设计。

因此，需要一种电压采样电路，既能保证正常采样不受影响，同时还能保证FWD脚电压在规格范围之内。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种电压采样电路，既能保证正常采样不受影响，同时还能保证采样芯片的检测引脚电压在规格范围之内。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种电压采样电路，用于采样变压器的输出电压，还包括辅助绕组、第一电容、第二电容、第一电阻、第二电阻、第一二极管和采样芯片；所述辅助绕组与变压器的副边绕组对应设置，所述采样芯片通过第二电阻与副边绕组电连接；

所述变压器的副边绕组的一端分别与第二电容的一端和电源端电连接，所述变压器的副边绕组的另一端分别与第一电容的一端和第一二极管的负极电连接，所述第一电容的另一端与第一电阻的一端电连接，所述第一电阻的另一端、第一二极管的正极以及第二电容的另一端均与接地端电连接。

进一步的，还包括第二二极管和第三电容，所述辅助绕组的一端与第二二极管的正极电连接，所述第二二极管的负极与第三电容的一端电连接，所述辅助绕组的另一端与第三电容的另一端分别与第二电阻的一端电连接，所述第二电阻的另一端与采样芯片的检测引脚电连接。

进一步的，还包括第二二极管和第三电容，所述辅助绕组的一端与第三电容的一端电连接，所述第三电容的另一端与第二二极管的正极电连接，所述第二二极管的负极和所述辅助绕组的另一端分别与第二电阻的一端电连接，所述第二电阻的另一端与采样芯片的检测引脚电连接。

进一步的，所述副边绕组与辅助绕组的匝数比为18:6。

本发明的有益效果在于：

本发明提供的一种电压采样电路，增加一辅助绕组，并且将采样芯片的检测引脚改为与辅助绕组电连接以检测辅助绕组的电压，当输出电压较大时，通过辅助绕组与副边绕组的匝数比的换算，使得辅助绕组上输出电压小于原始副边绕组的输出电压，进而使之既能保证正常采样不受影响，同时还能保证采样芯片的检测引脚电压在规格范围之内。

附图说明

图1为本发明的一种电压采样电路的实施例一的电路图；

图2为本发明的一种电压采样电路的实施例二的电路图；

标号说明：