[发明专利]一种基于正交编码波形的相控阵发射校准方法有效
申请号: | 201811579142.2 | 申请日: | 2018-12-24 |
公开(公告)号: | CN109683146B | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 季帅;王敬东;关炀;王轶 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 顾潮琪 |
地址: | 710068 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 正交 编码 波形 相控阵 发射 校准 方法 | ||
1.一种基于正交编码波形的相控阵发射校准方法,其特征在于包括下述步骤:
(1)搭建标校塔,并在其上放置辅助天线和信号收发系统,待测相控阵天线与辅助天线的位置满足天线的远场辐射条件,且待测相控阵天线与辅助天线工作在同一频段;
(2)利用正交编码产生N个相互正交的发射波形,分别通过待测相控阵天线对应的N个通道发射;所有通道的正交编码波形具有图钉形的模糊函数;
(3)各通道发射信号经放大后在空间中合成发射波束;
(4)辅助天线接收到发射信号,传输至信号收发系统,利用相应的正交编码进行N次并行解扩处理,形成了N组回波信号,并对N组回波信号同时进行AD采样,同时得到所有通道的幅相参数;
(5)依据得到的所有通道幅相值参数,实现最终的阵面发射校准;
假定第(i,k)个阵元的接收/发射信号为其中,Δaik、Δφik分别为第(i,k)个阵元的幅相不一致性参数;为修正幅相不一致性参数,应与对应的校正系数相乘,第i个校正通道测试采样信号为zi=Ii+jQi,校正系统
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