[发明专利]一种高精度的基准温度获取装置及其方法

说明书

一种高精度的基准温度获取装置及其方法，包括恒温设备A、恒温设备B、恒温设备A和恒温设备B之间设有传温导体，传温导体上设有多个温度传感器，多个温度传感器均与处理器相连，处理器与测试机械臂相连，处理器包括传感器温度记录模块、最接近基准温度传感器获取模块和基准点计算模块，传感器温度记录模块用于记录各温度传感器的温度；最接近基准温度传感器获取模块用于找到最接近基准温度的两个相邻温度传感器；基准点计算模块用于计算出传温导体上温度为基准温度的基准点；测试机械臂在处理器的控制下，将待测试产品置于传温导体的基准点上。本发明可有效降低产线的设备成本，可有效提高生产效率。

技术领域

本发明涉及基准温度获取装置及其方法，具体是涉及一种高精度的基准温度获取装置及其方法。

背景技术

随着水银温度计逐步退出市场，电子温度计的需求越来越大。不管接触式、红外式的电子温度计或者温度贴，都需要在生产过程中完成温度的校准和测试，体温计的基本精度是0.1摄氏度，因此生产过程中的校准或测试需要更高精度的温度基准源。

现有市场上已经有不少恒温的设备，可以提供不同精度的稳定温度，但是精度越高，恒温设备的系统越复杂，价格也呈指数式的上升，工厂大批量生产带来的设备采购及维护成本大增。

采用低精度的恒温设备，虽然也可以在其波动周期内，避开超限的时间，选择当其达到要求温度范围内的时候进行校准测试，但生产效率就会降低。

因此生产线上需要有一种低成本，高效率的方法和装置提供高精度的温度基准源，以方便对温度产品进行校准和测试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，克服上述背景技术的不足，提供一种高精度的基准温度获取装置及其方法，用低精度的温控来生成高精度的温度基准，可有效降低产线的设备成本，可有效提高生产效率。

本发明解决其技术问题采用的技术方案是，一种高精度的基准温度获取装置，包括恒温设备A、恒温设备B、处理器和测试机械臂，所述恒温设备A和恒温设备B之间设有传温导体，传温导体上设有多个温度传感器，多个温度传感器均与处理器相连，处理器与测试机械臂相连，所述处理器包括传感器温度记录模块、最接近基准温度传感器获取模块、基准点计算模块，传感器温度记录模块与最接近基准温度传感器获取模块相连，最接近基准温度传感器获取模块与基准点计算模块相连，所述传感器温度记录模块用于记录各温度传感器的温度；所述最接近基准温度传感器获取模块用于找到最接近基准温度的两个相邻温度传感器；所述基准点计算模块用于计算出传温导体上温度为基准温度的基准点；所述测试机械臂在处理器的控制下，将待测试产品置于传温导体的基准点上。

进一步，所述传温导体为金属棒导体。

进一步，所述传温导体的中间部分包裹有保温隔热材料。

一种高精度的基准温度获取方法，包括以下步骤：

（1）选取温度精度为D的恒温设备A和恒温设备B，将一根传温导体A端置于恒温设备A上，将传温导体B端置于恒温设备B上；

（2）传温导体中间段放置多个温度传感器，设定需要得到的基准温度为T_基准，将恒温设备A的温度设为T_A，T_A≤T_基准-D；将恒温设备B的温度设为T_B，T_B≥T_基准+D；