[发明专利]时钟设备检测系统在审

专利信息
申请号: 201811580735.0 申请日: 2018-12-24
公开(公告)号: CN109462525A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 张丽萍;李尧;贺星;李晨航;王晓晨;刘欢;苏洋;文超 申请(专利权)人: 中电科西北集团有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;H04J3/06;G01R23/02
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 侯芳;郭永丽
地址: 710068 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 主控板 频率综合 检测系统 时钟设备 时频 时频信号 测量板 电连接 板电 测量 时间准确度 电源模块 时间信号 时钟检测 转接 转接板 网口 输出
【权利要求书】:

1.一种时钟设备检测系统,其特征在于,包括:

主控板;

频率综合板,其与所述主控板电连接,所述频率综合板根据时频基准,输出所需的最终时频信号;

转接板,其所述主控板电连接。

时频测量板,其与所述主控板、所述频率综合板电连接,所述时频测量板用于测量多种时频信号;

电源板,其与所述主控板、所述频率综合板电连接。

2.如权利要求1所述的时钟设备检测系统,其特征在于,所述频率综合板包括时频基准模块、输出模块及FPGA,所述时频基准模块包括铷钟、GNSS接收机、直流B码调理模块、1PPS+TOD调理模块,所述时频基准模块根据GNSS接收机、直流B码调理模块和1PPS+TOD调理模块调理恢复出的时频作为时频基准;所述输出模块利用所述铷钟提供的10MHz标准频率源,输出四种频率信号。

3.如权利要求2所述的时钟设备检测系统,其特征在于,还包括电平转换器SN74LV1T34和422电平转换芯片,所述电平转换器SN74LV1T34、422电平转换芯片、FPGA集成在所述频率综合板上,所述直流B码调理模块将直流B码通过所述电平转换器转,后直接输入FPGA解析;所述1PPS+TOD调理模块将1PPS信号通过所述电平转换器后,输入所述FPGA进行解析,将TOD信号通过所述422电平转换器后,输入所述FPGA进行解析,所述时频基准模块根据GNSS接收机、直流B码调理模块和1PPS+TOD调理模块调理恢复出的时频作为时频基准。

4.如权利要求2所述的时钟设备检测系统,其特征在于,所述输出模块包括DDS、STM32F103ZE、电平比较芯片LT1719及E1芯片,所述输出模块利用所述铷钟提供的10MHz标准频率源,通过STM32F103ZE、DDS、电平比较芯片LT1719、FPGA及E1芯片处理后,输出四种频率信号,所述四种频率信号分别为同步时钟信号、内部时钟信号、正弦信号及E1发生信号,所述同步时钟信号为1KHz~50MHz的方波信号,所述内部时钟信号为10MHz的正弦信号,所述正弦信号为2.048MHz的正弦信号,所述E1发生信号为2.048Mbps标准方波信号。

5.如权利要求4所述的时钟设备检测系统,其特征在于,所述铷钟电连接第一BNC接口,所述GNSS接收机通过TNC接口连接GNSS天线,所述直流B码调理模块电连接第二BNC接口,所述1PPS+TOD调理模块电连接DB9接口,所述同步时钟信号和所述内部时钟信号分别通过第三BNC接口和第四BNC接口输出,所述正弦信号通过第五BNC接口输出,所述E1发生信号通过第六BNC接口输出。

6.如权利要求4所述的时钟设备检测系统,其特征在于,所述输出模块由所述FPGA通过第一SPI接口将所述DDS输出频率配置为10MHz的所述内部时钟信号,所述输出模块由所述STM32F103ZE通过第二SPI接口将所述DDS输出频率配置为2.048MHz方波信号和2.048MHz的所述正弦信号,所述2.048MHz方波信号通过所述FPGA分频得到2.048MHz标准方波信号,所述E1芯片处理所述2.048MHz标准方波信号生成所述E1发生信号,所述输出模块由所述STM32F103ZE通过所述第三SPI接口将所述DDS输出频率配置为所述同步时钟信号。

7.如权利要求4所述的时钟设备检测系统,其特征在于,所述时频测量板包括ADC、DP83640及STM32F107,所述ADC电连接所述FPGA,所述FPGA通过第四SPI串口与所述STM32F107电连接,所述DP83640与所述STM32F107电连接,所述STM32F107与所述主控板电连接;

其中,所述时频测量板测量直流B码、交流B码、频率、所述E1产生信号、1PPS+TOD信号及NTP/PTP信号。

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