[发明专利]一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统

说明书

本发明属于属于电子产品自动化测试技术领域，具体涉及一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统。该系统根据焦平面探测器开关机可靠性试验需求，利用可编程时间继电器编程产生特定的时序关系，经由继电器转接PCB反复进行开关步骤，从而对制冷机电源与制冷机之间、FPGA开发板电源与FPGA开发板之间、低压和高压电源与待测焦平面探测器之间的通路进行自动通断控制，实现待测产品的自动反复开关机控制功能。

技术领域

本发明属于电子产品自动化测试技术领域，具体涉及一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统。

背景技术

在焦平面探测器可靠性试验中，为了验证待测产品在反复开关机的情况下是否能够正常工作，需要进行开关机试验。然而，由于开关次数多，开关机试验消耗的时间长，并且各个测试设备的供电电压和通断时序有差异，若采用人工方式进行开关机，会消耗大量的人力且容易出错。开关机试验系统设计的技术难点在于，合理设计自动开关机控制系统，通过自动反复开关机的方式，减少人工干预，使得待测产品依照规定的时序准确开关，提高测试效率和准确度。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明提出一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统，以解决在焦平面探测器可靠性试验中，如何能够使待测产品依照规定的时序自动反复开关机的技术问题。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提出一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统，该系统包括测试设备电源、待测焦平面探测器、继电器转接PCB和可编程时间继电器；其中，在测试设备电源和待测焦平面探测器之间加入继电器转接PCB作为开关，并用可编程时间继电器按照规定的时序控制继电器转接PCB的通断，从而对测试设备电源与探测器之间的通路进行自动通断控制。

进一步地，测试设备电源包括制冷机电源、FPGA开发板电源、低压电源和高压电源。

进一步地，可编程时间继电器采用带有4个输出端的24V直流输入可编程时间继电器；可编程时间继电器利用程控的方式进行输出信号时序编程，对内部的4个继电器控制开关的通断时序进行控制；通过4个继电器控制开关的通断，分别对继电器转接PCB中与4个继电器控制开关相对应的4个普通继电器的通断进行控制。

进一步地，当可编程时间继电器内部的某个继电器控制开关断开时，相应的输出端浮空，对应的普通继电器的线圈两端没有施加电压，线圈中没有电流通过，普通继电器内部的开关断开；当某个继电器控制开关闭合时，相应的输出端接地，对应的普通继电器线圈两端有24V直流电压，线圈通电，吸合普通继电器的开关。

进一步地，在继电器转接PCB中，各个普通继电器的线圈两端分别引至可编程时间继电器输出端连接的接插件和连接24V直流电源的接插件，将24V直流电源与可编程时间继电器和继电器转接PCB的供电端相连接；4个普通继电器的各个开关的两端分别引至不同的接插件，将继电器转接PCB上的相应接插件分别与制冷机及制冷机电源、FPGA开发板及FPGA开发板电源、低压电源及待测焦平面探测器，高压电源及待测焦平面探测器相连接，从而将普通继电器的各个开关插入到制冷机电源与制冷机之间、FPGA开发板电源与FPGA开发板之间、低压电源与待测焦平面探测器之间，以及高压电源与待测焦平面探测器之间的通路上。

(三)有益效果

本发明提出的用于焦平面探测器测试的开关机试验系统，根据焦平面探测器开关机可靠性试验需求，利用可编程时间继电器编程产生特定的时序关系，经由继电器转接PCB反复进行开关步骤，从而对制冷机电源与制冷机之间、FPGA开发板电源与FPGA开发板之间、低压和高压电源与待测焦平面探测器之间的通路进行自动通断控制，实现待测产品的自动反复开关机控制功能。

附图说明

图1为本发明实施例开关机试验系统总体框图；