[发明专利]一种双光路调试合束方法有效
| 申请号： | 201811584843.5 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109664018B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 李珣;李明;刘红军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | B23K26/06 | 分类号： | B23K26/06;B23K26/064 |
| 代理公司： | 61211 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人： | 郑丽红<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光路 合束 垂直度 水平度 光斑 双光路 粗调 精调 调试 检测 两路 激光 | ||
1.一种双光路调试合束方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)调节光路一；
1.1)调节光路一光斑居中，使光斑在光路中的任一光学元件表面均是从其中心入射及出射；
1.2)粗调光路一水平度及垂直度，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路一的水平度、垂直度的调节；
1.3)精调光路一水平度及垂直度，采用高精度观察仪器观察，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路一的水平度、垂直度的调节；
2)调节光路二；
2.1)调节光路二光斑居中，使光斑在光路中的任一光学元件表面均是从其中心入射及出射；
2.2)粗调光路二水平度及垂直度，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路二的水平度、垂直度的调节；
2.3)精调光路二水平度及垂直度，采用高精度观察仪器观察，通过调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路二的水平度、垂直度的调节；
3)合束及检测；
3.1)将光路一和光路二合束；
3.2)合束检测；
采用高精度观察仪器检测是否合束，若没有实现合束，则通过调整双光楔姿态，进行光束一和光束二的合束。
2.根据权利要求1所述的双光路调试合束方法，其特征在于：步骤1.1)中，具体通过色卡实现激光光斑的对中。
3.根据权利要求2所述的双光路调试合束方法，其特征在于：步骤1.3)中的高精度观察仪器为CCD相机。
4.根据权利要求1或2或3所述的双光路调试合束方法，其特征在于：步骤3.1)将光路一和光路二合束具体为通过切换反射镜的切入切出，实现光路一或光路二的工作。
5.根据权利要求4所述的双光路调试合束方法，其特征在于：步骤3.2)中的高精度观察仪器为高成像质量CCD。
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