[发明专利]一种确定铀矿床岩石中铀的存在形式和含量的方法

说明书

本发明属于铀矿技术领域，具体公开一种确定铀矿床岩石中铀的存在形式和含量的方法：采集铀矿床岩石；将岩石样品切成光薄片；将白云母片贴在光薄片上；剪裁标准铀玻璃，将白云母贴在铀玻璃片上；校正光薄片中子照射积分通量不一致性；确定积分中子通量，辐照光薄片；将光薄片冷却；取下白云母片并蚀刻，复位于原光薄片上；统计观测光薄片裂变径迹密度和形态，确定光薄片中铀存在形式；统计光薄片中标准铀玻璃单位铀含量所产生的裂变径迹密度，并确定主要造岩矿物中铀的含量；测定出全岩的铀含量；计算出铀矿床岩石中各矿物中的铀的含量。该方法解决了积分中子通量强度和照射时间难于把握，矿物裂变径迹的统计和分析非常耗时挑选成矿的技术问题。

技术领域

本发明属于铀矿技术领域，具体涉及一种基于诱发裂变径迹确定铀矿床岩石中铀的存在形式和含量的方法。

背景技术

为了寻找铀矿，需要对铀的分布、含量、存在形式进行了详细的研究，查明铀元素在岩石和蚀变岩石中的存在形式及配分极其重要。化学分析、中子活化分析、X荧光分析、光谱分析等分析测试方法虽然能测定样品中的铀、钍含量，但不能测定铀、钍在样品中的空间分布状态和特征。

目前多数采用α径迹法测定岩石或矿物中铀的含量及空间分布特征，但这种方法存在其局限性：一方面对于铀含量很低的岩石或矿物无法使用，铀含量十万分之几到万分之几，在核乳胶上观察不到α径迹；另一方面，钍也发生强烈的α径迹衰变，如果不知道样品的Th/U比值，就无法测定钍、铀含量。而裂变径迹法研究铀矿的铀源、运移、再分配和富集等，排除了矿物微细包裹体混入的影响。但该方法存在积分中子通量强度和照射时间难于把握，矿物裂变径迹的统计和分析非常耗时等缺陷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于诱发裂变径迹确定铀矿床岩石中铀的存在形式和含量的方法，该方法解决了积分中子通量强度和照射时间难于把握，矿物裂变径迹的统计和分析非常耗时挑选成矿的技术问题。

实现本发明目的的技术方案：一种确定铀矿床岩石中铀的存在形式和含量的方法，该方法具体包括以下步骤：

步骤S1：采集铀矿床岩石；

步骤S2：将上述步骤S1中所采集的岩石样品切成光薄片、并抛光；

步骤S3：将白云母片的新鲜面贴在上述步骤S1中抛光后的光薄片上；

步骤S4：剪裁标准铀玻璃，将白云母片的另一面固定贴在铀玻璃片上；

步骤S5：校正岩石光薄片样品的中子照射积分通量的不一致性、去除背景径迹的影响；

步骤S6：确定积分中子通量，然后将上述步骤S5中校正、去除后的岩石光薄片样品进行辐照；

步骤S7：将上述步骤S6中照射过的岩石光薄片样品冷却；

步骤S8：取下上述步骤S7中冷却后的岩石光薄片样品中的白云母片，并进行蚀刻、洗净、晾干，并复位于原光薄片上；

步骤S9：统计和观测岩石光薄片样品的裂变径迹密度和形态，确定岩石光薄片样品中铀的存在形式；

步骤S10：统计上述步骤S7中冷却后的岩石光薄片样品中的各个标准铀玻璃单位铀含量所产生的裂变径迹密度，并确定主要造岩矿物中铀的含量；

步骤S11：根据上述步骤S7中的主要造岩矿物中铀的含量，测定出全岩的铀含量；

步骤S12：根据上述步骤S10和步骤S11得到的铀的含量，计算出铀矿床岩石中各矿物中的铀的含量。

将所述的步骤S2中光薄片抛光至0.03mm，选用环氧树脂配合已二胺作为粘合剂将光薄片粘在载玻璃上，裁剪光薄片载玻璃，采用棉花和丙酮擦洗薄片表面。