[发明专利]一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置及测试方法在审
申请号: | 201811589659.X | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN109443740A | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 刘利刚 | 申请(专利权)人: | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00;G01L5/00 |
代理公司: | 江苏昆成律师事务所 32281 | 代理人: | 刘尚轲 |
地址: | 215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 键帽 压力传感器 支撑架 拉拔测试 拉拔机构 弹性件 驱动件 种检测 测试 弹性浮动 键盘表面 键盘长边 拉拔检测 上下运动 压制机构 拉拔 压住 驱动 检测 移动 | ||
本发明公开了一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置及测试方法,其包括第一驱动件、受所述第一驱动件驱动沿键盘长边进行移动的支撑架、设置在所述支撑架上的键帽拉拔机构、以及设置在所述支撑架上的且压住键盘表面的压制机构,所述键帽拉拔机构包括可进行上下运动的压力传感器、通过第一弹性件弹性浮动设置在所述压力传感器上的键帽拉拔块、感应所述第一弹性件或所述压力传感器所受拉力的压力传感器。本发明大大的提高了键帽拉拔检测的效率以及检测精度。
【技术领域】
本发明属于零部件检测技术领域,特别是涉及一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置及测试方法。
【背景技术】
键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的,目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有:1)来料不良,例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良;2)装配不良,例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因,将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后,为了确保后续使用的可靠性,需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。
本公司早在2013年就开始研发键盘的组装检测的自动化设备,关于键帽拉拔测试设备,本公司已申请的专利号为201510726534.7公开了一种键帽拉拔力测试用按压模组及键帽拉拔力测试机,其在移载模组活动端设置有若干与一排键帽一一对应的且具有压力感应功能的拉钩块,通过拉钩块拉住键帽上抬实现对键帽拉拔力的测试。随着本公司的研发,又申请了专利号为201810262493.4的一种键帽结构组装不良测试机,在实际使用过程中,发现该设备的检测结果的准确度有时候不是很稳定,且检测头组件模块的整体结构有点复杂,结构数量较多,不够精简。
因此,有必要提供一种新的检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置及测试方法来解决上述问题。
【发明内容】
本发明的主要目的之一在于提供一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置,大大的提高了键帽拉拔检测的效率以及检测精度。
本发明通过如下技术方案实现上述目的:一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置及测试方法,其包括第一驱动件、受所述第一驱动件驱动沿键盘长边进行移动的支撑架、设置在所述支撑架上的键帽拉拔机构、以及设置在所述支撑架上的且压住键盘表面的压制机构,所述键帽拉拔机构包括可进行上下运动的压力传感器以及设置在所述压力传感器感应端的键帽拉拔块。
进一步的,所述键帽拉拔机构包括第二驱动件、受所述第二驱动件驱动进行前后运动的第一连接板、固定在所述第一连接板上的第三驱动件、受所述第三驱动件驱动进行上下运动的第二连接板,所述压力传感器固定在所述第二连接板上。
进一步的,所述键帽拉拔机构的数量至少为一组。
进一步的,所述键帽拉拔块的两侧设置有挂钩,通过所述挂钩伸入到键帽与键盘表面之间的缝隙中将键帽向上拉起。
进一步的,所述压制机构包括固定在所述支撑架上的升降气缸、受所述升降气缸驱动进行上下运动的第三连接板、设置在所述第三连接板下表面上的若干弹性压制滚轮单元。
进一步的,所述弹性压制滚轮单元包括通过第二弹性件与所述第三连接板弹性连接的滚轮安装板、设置在所述滚轮安装板上的压制滚轮。
进一步的,所述弹性压制滚轮单元按照两个为一组,且每组中的两个所述弹性压制滚轮单元分别设置在所述键帽拉拔块的左右两侧。
本发明的另一目的在于提供一种键帽拉拔测试方法,其包括以下步骤:
1)提供一可将键帽向上拉起的拉拔块,并将该拉拔块设置在一压力传感器上;
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