[发明专利]检测EGFR基因多个突变位点的检测剂组合物及试剂盒有效
申请号: | 201811590453.9 | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN111363810B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 林张军;曹飞;杨卫平 | 申请(专利权)人: | 郑州方欣生物科技有限责任公司 |
主分类号: | C12Q1/6886 | 分类号: | C12Q1/6886;C12N15/11 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 韩蕾;姚亮 |
地址: | 451100 河南省郑州市航空港区*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 egfr 基因 突变 组合 试剂盒 | ||
1.一种用于检测EGFR基因多个突变位点的检测剂组合物,该组合物包括:
用于检测19del突变的引物:SEQ ID No.1、SEQ ID No.2、SEQ ID No.3、SEQ ID No.4、SEQ ID No.5、SEQ ID No.6、SEQ ID No.7、SEQ ID No.8、SEQ ID No.9、SEQ ID No.10和SEQID No.11。
2.根据权利要求1所述的检测剂组合物,该组合物还包括以下引物:
用于检测L858R突变的引物:SEQ ID No.14和SEQ ID No.15;和/或
用于检测T790M突变的引物:SEQ ID No.18和SEQ ID No.19。
3.根据权利要求1或2所述的检测剂组合物,该组合物还包括以下引物:
用于检测G719X突变的引物:SEQ ID No.22、SEQ ID No.23、SEQ ID No.24和SEQ IDNo.25;和/或
用于检测L861Q突变的引物:SEQ ID No.28和SEQ ID No.15;和/或
用于检测S768I突变的引物:SEQ ID No.30和SEQ ID No.31。
4.根据权利要求1或2或3所述的检测剂组合物,该组合物还包括以下引物:
用于检测20ins突变的引物:SEQ ID No.34、SEQ ID No.35、SEQ ID No.36、SEQ IDNo.38和SEQ ID No.39。
5.根据权利要求1~4任一项所述的检测剂组合物,该组合物还包括用于检测19del、L858R、T790M、G719X、L861Q、S768I和/或20ins的探针,所述探针的荧光基团选用FAM、VIC、ROX和/或CY5,淬灭基团选用BHQ和/或MGB;
优选地,针对一个反应孔同时使用四种不同荧光基团标记的探针;进一步优选的探针的标记组合为5’FAM-3’MGB、5’VIC-3’BHQ1、5’ROX-3’MGB和5’CY5-3’BHQ3;
更进一步优选地,所述探针选自:SEQ ID No.12、SEQ ID No.16、SEQ ID No.20、SEQ IDNo.26、SEQ ID No.32和SEQ ID No.39。
6.根据权利要求1~5任一项所述的检测剂组合物,该组合物还包括Blocker引物;优选地,Blocker引物3'端使用MGB修饰,5'端无修饰,Blocker引物长度为13~28bp,自3'端第一个碱基起至5'端有连续13~18个碱基与野生型序列完全互补;
更优选地,Blocker引物选自:SEQ ID No.13、SEQ ID No.17、SEQ ID No.21、SEQ IDNo.29、SEQ ID No.33和SEQ ID No.40。
7.根据权利要求1所述的检测剂组合物,该组合物还包括内控引物和内控探针,内控探针采用5’VIC-3’BHQ1修饰,内控引物和内控探针识别的区域选自EGFR其他外显子上相对保守区域;
优选地,内控引物包括:SEQ ID No.41和SEQ ID No.42;内控探针包括SEQ ID No.43。
8.一种用于检测EGFR基因多个突变位点的检测试剂盒,该试剂盒包括根据权利要求1~7任一项所述的检测剂组合物;
优选地,所述试剂盒还包括:包含热启动Taq酶、UNG酶和酶稀释液的混合酶液,阳性质控品和阴性对照品。
9.根据权利要求8所述的检测试剂盒,其中,
用于检测19del、L858R、T790M的引物、探针配制成第一反应预混液;
用于检测G719X、L861Q、S768I的引物、探针配制成第二反应预混液;
用于检测20ins的引物、探针配制成第三反应预混液。
10.一种用于检测EGFR基因多个突变位点的方法,该方法包括:利用权利要求1~7任一项所述的检测剂组合物或权利要求8~9任一项所述的检测试剂盒,对进行多重荧光qPCR反应,以检测组织DNA和cfDNA中突变;
优选地,所述反应利用实时荧光定量PCR仪进行,PCR仪的反应程序设置为:
第一步:温度37℃时间5min不采集荧光;循环数1;
第二步:温度95℃时间5min不采集荧光;循环数1;
第三步:温度95℃时间15s不采集荧光,温度60℃时间35s不采集荧光,温度72℃时间20s不采集荧光;循环数10;
第四步:温度95℃时间15s不采集荧光,温度60℃时间35s采集荧光,温度72℃时间20s不采集荧光;循环数35。
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