[发明专利]一种测量轴承三瓣波外滚道波形尺寸的方法有效
申请号: | 201811591587.2 | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN109443290B | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 金文胜;孙慧霖;马森;王旭刚;刘英华;石东丹;刘哲夫;王博;赵立新;刘岩;王忠龙;马雪情;尹红丽;张鹏;张冰圆;胡克达;史春喜;刘涛;刘婉慧;赵秀玲;林大鹏 | 申请(专利权)人: | 中国航发哈尔滨轴承有限公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B21/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 牟永林 |
地址: | 150025 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 轴承 三瓣 滚道 波形 尺寸 方法 | ||
一种测量轴承三瓣波外滚道波形尺寸的方法,它涉及几何量测量、尺寸测量技术领域。本发明解决了现有的三瓣波外滚道在加工过程中存在无法对三瓣波外滚道轴承波形尺寸进行测量的问题。本发明的测量方法包括以下步骤,步骤一、选用reference600高精度三坐标进行测量;步骤二、采用参考探针,选择竖直探针、盘形探针作为非参考探针进行测量;步骤三、选用磁力吸盘装夹工件;步骤四、校验测量探针;步骤五、粗建坐标系;步骤六、第一次精建坐标系;步骤七、第二次精建坐标系;步骤八、使用盘形探针扫描测量;步骤九、将实际波形数据转换到极坐标系下用于输出360个点数据;步骤十、找到波形最高点及最低点。本发明用于轴承三瓣波外滚道波形尺寸的测量。
技术领域
本发明涉及几何量测量、尺寸测量技术领域,具体涉及一种测量轴承三瓣波外滚道波形尺寸的方法。
背景技术
三瓣波形的几何形状是指滚道轮廓线偏移基圆的位移量,滚道基圆是指三瓣波滚道的波形的3个高点构成的圆和3个低点构成的圆的中间圆。波形轮廓分为三个预载区按120°均匀分布,0°、120°、240°三个点为三瓣波沿基圆向外突出的最高点;60°、180°、300°三个点为三瓣波沿基圆向内凹进的最低点,三瓣波滚道轮廓如图1所示,其中,H为三瓣波3个高点外接圆,J为三瓣波3个低点内接圆,I为三瓣波基圆(3个高点和3个低点中间圆),K为三瓣波轮廓。
由于采用预变形方法加工三瓣波外滚道,外滚道轮廓的三个低点、三个高点加工过程中往往不在同一半径上,此时三瓣波滚道轮廓最低点半径和高点半径所构成的内接圆和外接圆的圆度不为0。通常三瓣波低点直径差要求控制在0.003mm以内。
传统意义上的三瓣波外滚道轴承波形尺寸的测量是用圆柱度仪测量三瓣波的波形高低点的相互差,而三瓣波的高、低点的具体值及角向位置无法确定。
目前还没有一种有效的检测技术对其进行测量,三瓣波轴承外圈滚道的高点、低点尺寸及角向位置是影响径向游隙的关键因素,例如,影响三瓣波系列产品游隙产生卡滞等关键问题。因此开展三瓣波轴承外圈滚道检测技术研究是势在必行的。
综上所述,现有的三瓣波外滚道在加工过程中存在无法对三瓣波外滚道轴承波形尺寸进行测量的问题。
发明内容
本发明为了解决现有的三瓣波外滚道在加工过程中存在无法对三瓣波外滚道轴承波形尺寸进行测量的问题,进而提供一种测量轴承三瓣波外滚道波形尺寸的方法。
本发明的技术方案是:
一种测量轴承三瓣波外滚道波形尺寸的方法,所述方法是通过以下步骤实现的,
步骤一、三坐标测量仪的选择:
选用reference600高精度三坐标测量仪进行测量,根据三瓣波外滚道的测量要求,通过编程实现三瓣波外滚道轴承波形尺寸的测量;
步骤二、测量探针的选择:
采用参考探针、非参考探针进行测量,非参考探针包括竖直探针和盘形探针,其中竖直探针用于测量三瓣波外圈基准:端面、外径、端面窄凸台测量,盘形探针用于测量三瓣波外滚道;
步骤三、工件的装夹:
选用磁力吸盘对工件进行装夹,把工件下端面吸附在磁力吸盘上;
步骤四、测量探针的校验:
校验探针,PRB1、PRB2、PRB3分别为参考探针、竖直探针、盘形探针;
步骤五、粗建坐标系:
手动建立工件坐标系CSY1,用竖直探针PRB2分别测量基准平面、基准圆,凸缘左右各一点构造中点即基准点;
步骤六、第一次精建坐标系:
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