[发明专利]一种粒子群自抗扰控制方法、装置及存储介质

说明书

本发明提供一种粒子群自抗扰控制方法、装置及存储介质，其方法包括：根据自抗扰算法确定被控对象的多个状态参数，根据双空间PSO粒子群优化算法对多个可调参数进行整定处理，得到第一级寻优参数；根据局部势能寻优算法对第一级寻优参数进行寻优处理，得到第二级寻优参数；将第二级寻优参数输入ADRC最优自抗扰算法中进行参数更新，通过参数更新后的ADRC最优自抗扰算法控制被控对象；本发明利用自抗扰算法来确定被控对象的多个状态参数，减少无意义的参数参与，降低控制算法的复杂程度，利用双空间PSO粒子群优化算法和局部势能寻优算法优化可调参数，使可调参数精确化，得到最优解，从而通过最优解来控制被控对象，提高控制精准度。

技术领域

本发明主要涉及自抗扰控制领域技术领域，具体涉及一种粒子群自抗扰控制方法、装置及存储介质。

背景技术

随着时代的发展，在控制系统逐渐复杂，控制难度提高，使得经典的PI D自抗扰控制算法开始渐渐显现出不足之处，而一些新的控制算法其参数多，算法复杂度较高，使得自抗扰控制在参数选择上需要花费大量时间，且不容易求出较优解。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种粒子群自抗扰控制方法、装置及存储介质。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种粒子群自抗扰控制方法，包括如下步骤：

根据自抗扰算法确定被控对象的多个状态参数。

根据双空间PSO粒子群优化算法对所述多个状态参数进行整定处理，得到第一级寻优参数。

根据局部势能寻优算法对所述第一级寻优参数进行寻优处理，得到第二级寻优参数。

将所述第二级寻优参数输入ADRC最优自抗扰算法中进行参数更新，通过参数更新后的ADRC最优自抗扰算法控制所述被控对象。

本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种粒子群自抗扰控制装置，包括：

参数确定模块，用于根据自抗扰算法确定被控对象的多个状态参数。

第一级寻优模块，用于根据双空间PSO粒子群优化算法对所述多个状态参数进行整定处理，得到第一级寻优参数。

第二级寻优模块，用于根据局部势能寻优算法对所述第一级寻优参数进行寻优处理，得到第二级寻优参数。

控制模块，用于将所述第二级寻优参数输入ADRC最优自抗扰算法中进行参数更新，通过参数更新后的ADRC最优自抗扰算法控制所述被控对象。

本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种粒子群自抗扰控制装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，当所述处理器执行所述计算机程序时，实现如所述的粒子群自抗扰控制方法。

本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如所述的粒子群自抗扰控制方法。

本发明的有益效果是：利用自抗扰算法来确定被控对象的多个状态参数，减少无意义的参数参与，降低控制算法的复杂程度，提高运行速度，利用双空间PSO粒子群优化算法和局部势能寻优算法优化处理状态参数，使状态参数精确化，得到最优解，从而通过最优解来控制被控对象，提高控制精准度。

附图说明

图1为本发明一实施例提供的粒子群自抗扰控制方法的方法流程图；

图2为本发明一实施例提供的粒子群自抗扰控制装置的模块框图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。