[发明专利]一种复杂调制信号高速生成装置和方法在审
申请号: | 201811594024.9 | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN109709851A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 胡斌;田云峰;王志巧;李呈柯;张波;李东亮;陈俊 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 马骥;南霆 |
地址: | 100854 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 调制信号数据 调制信号 存储器 复杂调制 生成装置 数模转换器 调制方式 调度器 分区 申请 数据预处理单元 读取 发送 预处理单元 分区存储 高速切换 接收数据 数模转换 顺序检索 存储 输出 | ||
本申请公开了一种复杂调制信号高速生成装置,包括:数据预处理单元,用于产生N个不同调制方式的调制信号数据,并下发至存储器;存储器,用于接收数据预处理单元下发的调制信号数据,并按调制方式不同进行分区存储;调制信号调度器,用于按规定序列顺序检索所述存储器的分区,读取分区里存储的调制信号数据,发送至数模转换器;数模转换器,用于接收调制信号调度器发送的调制信号数据,进行数模转换后输出复杂调制信号。本申请还提供了一个使用以上装置的方法。与现有调制信号生成装置和方法比较,本申请具有能够实现在多种调制信号之间高速切换的优点。
技术领域
本发明涉及矢量调制信号产生领域,尤其涉及一种复杂调制信号生成的装置和方法。
背景技术
在实际应用中,地面站通道时延的变化是影响卫星双向时间比对精度的主要误差来源,一般来讲,可通过卫星双向时间比对校准系统(移动参考站)对整个卫星双向比对系统进行整体的校准评估,也可通过卫星模拟器法实现从天线端到调制解调器前端的地面站通道时延校准,但对于调制解调器本身路径时延的测量较为困难,现有技术可以通过搭建特有系统实现调制解调器本身路径时延的测量,但测试方法复杂、不适用于卫星双向比对系统。
现代局部战争中,雷达探测、电子对抗与反对抗的竞争日趋激烈,武器系统对其关键技术之一的基带信号产生提出了越来越多的要求:雷达探测与电子对抗发射机以及应用于许多武器装备的诱偏源、模拟仿真和测试系统都要求具备复杂的调制波形,并且能在设定的多种调制波形之间高速切换,形成一串复杂的调制信号进行输出。此外,随着新一代武器装备的发展和在役武器装备使用保障对测试技术的需求,对基带信号提出了更高的要求,需要解决复杂调制信号的高速切换、生成的仿真信号发生难题,满足雷达、通信、导航和精确制导及其对抗装备对密集、复杂和状态多变的电磁环境模拟仿真及测试要求。而现有技术中调制信号的产生难以满足这些领域中多种调制信号高速切换的测试需求。
发明内容
本申请提出了一种复杂调制信号高速生成装置和方法,解决现有调制信号生成装置和方法不能在多种调制信号之间高速切换的问题。
本申请实施例采用下述技术方案:
本申请实施例提供一种复杂调制信号高速生成装置,包括:数据预处理单元、存储器、调制信号调度器、数模转换器:所述数据预处理单元,用于产生N个不同调制方式的调制信号数据,并下发至存储器,所述N是不小于2的整数;所述存储器,用于接收数据预处理单元下发的调制信号数据,并按调制方式不同进行分区存储;所述调制信号调度器,用于按规定序列顺序检索所述存储器的分区,读取分区里存储的调制信号数据,发送至数模转换器;所述数模转换器,用于接收调制信号调度器发送的调制信号数据,进行数模转换后输出复杂调制信号。
优选地,所述调制方式是BPSK、QAM、FSK、QPSK、ASK。
优选地,所述存储器使用DDR3芯片组。
最佳地,所述调制信号调度器是FPGA。
优选地,所述FPGA采用28nm逻辑工艺。
优选地,所述数据预处理单元是计算机软件实现,生成的调制信号数据通过计算机通信接口下发至存储器。
本申请实施例还提供一种复杂调制信号高速生成方法,用于以上装置,包括以下步骤:产生N个不同调制方式的调制信号数据,所述N是不小于2的整数;按调制方式不同分类存储所述调制信号数据;按规定序列顺序读取存储的调制信号数据;对读取的调制信号数据进行数模转换,输出复杂调制信号。
优选地,所述产生N个不同调制方式的调制信号数据进一步包括:产生N个不同调制方式的矢量调制信号;对所述矢量调制信号进行成型滤波,生成滤波调制信号;对所述滤波调制信号进行内插匹配,生成N个不同调制方式的调制信号数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811594024.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。