[发明专利]发光单元的测试方法

说明书

本发明提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算各个发光二极管的衰减程度。

【技术领域】

本发明关于一种发光单元的测试方法，特别是关于一种发光单元的自我检测方法。

【背景技术】

随着半导体技术的发展，发光二极管(LED)的尺寸已经可以达到微米等级，且因LED有省电、亮度高、使用寿命长与高对比的特性，市面上有许多厂商开始投入LED技术，并制造各种尺寸的LED显示器。实际上，为了确保LED显示器的质量，这些LED显示器在出货前，都会经过各种测试的程序，以确保LED显示器中的每颗LED可以正常工作。

举例来说，传统上在测试LED显示器时，往往会将LED显示器点亮特定颜色或特定图样(pattern)，再利用摄影机或其他外部检测仪器测量是否有亮点、暗点或显示异常。然而，传统测试LED显示器的手段需要额外的仪器，不仅增加成本也十分耗时，当大批的LED显示器需要测试时，会有测试速度不足的问题。因此，业界需要一种不需额外的检测仪器，且能够快速检测LED显示器的方法，以应LED显示器市场的快速发展。

【发明内容】

本发明提供一种发光单元的测试方法，应用了发光二极管的元件特性，使用同一个发光单元内的发光二极管，实现发光单元的自我检测。

本发明提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，所述发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，所述测试方法包含以下步骤。设定第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管的光线。设定第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管的光线以及关联于第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。以及，依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管的衰减程度。

在一个实施例中，还包含以下步骤。取得第四光感应电流，第四光感应电流关联于第三发光二极管，以及关联于第一发光二极管产生的光线。取得第五光感应电流，第五光感应电流关联于第三发光二极管，以及关联于第二发光二极管产生的光线。以及，取得第六光感应电流，第六光感应电流关联于第一发光二极管，以及关联于第二发光二极管产生的光线。此外，在计算第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管的衰减程度的步骤中，还依据第四光感应电流、第五光感应电流以及第六光感应电流，计算第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管的衰减程度。

本发明提供另一种发光单元的测试方法，同样应用了发光二极管的元件特性，使用同一个发光单元内的发光二极管，实现发光单元的自我检测。

本发明提出一种发光单元的测试方法，用于测试发光单元中的至少一个红色发光二极管、绿色发光二极管以及蓝色发光二极管，所述测试方法包含以下步骤。驱动绿色发光二极管与蓝色发光二极管，以产生第一绿光与第一蓝光。提供红色发光二极管，红色发光二极管依据第一绿光产生第一光感应电流，且依据第一蓝光产生第二光感应电流。提供绿色发光二极管，绿色发光二极管依据第一蓝光产生第三光感应电流。以及，记录第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流。