[发明专利]一种检查模型矩阵的方法有效

专利信息
申请号: 201811600971.4 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109684734B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 王思浩;罗巍;吴大可;周振亚;贾程瀚 申请(专利权)人: 北京华大九天软件有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王金双
地址: 100102 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检查 模型 矩阵 方法
【权利要求书】:

1.一种检查模型矩阵的方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)进行电路仿真,收集迭代困难的节点;

2)根据电路网络拓扑查找收敛困难的节点上连接的器件;

3)对查找到的器件进行矩阵检查;

4)给出检测结果信息;

所述矩阵检查包括:对查找到的器件依次分情况进行向前差分检查、中心差分检查和理查德森外推检查,推算出电导和电容的数值解,用该数值解与雅可比矩阵中实际填入的值做对比,当向前差分检查或中心差分检查或理查德森外推检查中的所述电导和所述电容与所述雅可比矩阵中实际填入值的差都大于容差时,则认为雅可比矩阵填写错误。

2.根据权利要求1所述的检查模型矩阵的方法,其特征在于,所述步骤1),进一步包括:

如果迭代结果是解不收敛,则将节点按照电压差排序;

如果迭代结果是右端项不收敛,按照右端项排序;

将排在前X位的节点作为需要检查的节点;

其中,X为正整数。

3.根据权利要求1所述的检查模型矩阵的方法,其特征在于,所述向前差分检查包括以下步骤:

计算出电导的数值解:首先计算出当前迭代步的支路电压降与前一迭代步的支路电压降的差del_v,再用当前迭代步的支路电流与前一迭代步的支路电流之差除以del_v,得到电导的数值解con_value;

计算出电容的数值解:首先计算出当前迭代步的支路电压降与前一迭代步的支路电压降的差del_v,再用当前迭代步的支路电荷与前一迭代步的支路电荷之差除以del_v,得到电容的数值解cap_value;

检查电导正确性:将电导的数值解con_value与器件雅可比矩阵中的对应电导进行比较,二者的差con_del如果超出了允许的容差tol就做标记;

检查电容正确性:将电容的数值解cap_value与器件雅可比矩阵中的对应电容进行比较,二者的差cap_del如果超出了允许的容差tol就做标记;

如果电导差con_del和电容差cap_del都小于容差tol,则可以直接给出检测结果信息;如果电导差con_del和电容差cap_del中有一个不小于容差tol,则进行中心差分检测。

4.根据权利要求1所述的检查模型矩阵的方法,其特征在于,所述中心差分检查包括以下步骤:

计算出电导的数值解:首先计算出当前迭代步的支路电压降与前一迭代步的支路电压降的差del_v,再用当前迭代步前一步的支路电流与当前迭代步后一步的支路电流之差除以2倍的del_v,得到电导的数值解con_value_2;

计算出电容的数值解:用当前迭代步前一步的支路电荷与当前迭代步后一步的支路电荷之差除以2倍的del_v,得到电容的数值解cap_value_2;

检查电导正确性:将电导的数值解con_value_2与器件雅可比矩阵中的对应电导进行比较,二者的差con_del_2如果超出了允许的容差tol,就做一个标记;

检查电容正确性:将电容的数值解cap_value_2与器件雅可比矩阵中的对应电容进行比较,二者的差cap_del_2如果超出了允许的容差tol就做标记;

如果电导差con_del_2和电容差cap_del_2都小于容差tol,则可以直接给出检测结果信息;如果电导差con_del_2和电容差cap_del_2中有一个不小于容差tol,则进行理查德森外推检查。

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