[发明专利]一种用于GM制冷机制冷功率测量的装置在审
申请号: | 201811601459.1 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN109632150A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 胡锐;丁开忠;毕延芳;李蕾;邹春龙;张华辉;杜双松;冯汉升;陈永华;陈根;李君君;宋云涛 | 申请(专利权)人: | 合肥中科离子医学技术装备有限公司 |
主分类号: | G01K17/00 | 分类号: | G01K17/00 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 230088 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 制冷量 制冷机组件 制冷功率 辐射屏 密封圈 加热器 螺栓 连接固定 温度工况 一级冷头 购买方 制冷机 冷头 漏热 嵌设 热机 传导 冷却 装配 测试 辐射 外部 生产 | ||
本发明公开了一种用于GM制冷机制冷功率测量的装置,包括测量平台和待测制冷机组件,所述待测制冷机组件纵向嵌设到所述测量平台内部,且所述待测制冷机组件通过螺栓和密封圈一连接固定安装在GM制冷机制冷量测量平台中。本发明的有益效果是:本发明使用一台制冷机分别对GM制冷机制冷量测量平台的第一辐射屏和第二辐射屏进行冷却,尽可能降低了外部传导漏热机辐射漏热对待测GM制冷机制冷量测量的影响;本发明在待测GM制冷机一级冷头和二级冷头上分别安装了加热器,可以实现GM制冷机在不同温度工况下制冷量的测量;本发明构造简单,成本低廉,使用方便,便于购买方对GM制冷机冷头进行装配前测试,降低了后续生产的潜在风险。
技术领域
本发明涉及低温系统检测领域,具体涉及一种用于GM制冷机制冷功率测量的装置。
背景技术
在超低温液氦零挥发系统中,GM制冷机的冷头与液氦共同组成超低温系统的冷源,GM制冷机一级冷头用于冷却防辐射屏,二级冷头用于将挥发的氦气冷凝成液氦,使液氦系统形成闭式循环,正常工作时液氦实现零挥发。制冷量是GM制冷机冷头的主要技术指标,要实现零挥发,首先要保证一级冷头和二级冷头的制冷量。但由于故障或者维护不当会造成制冷效率降低,所以装机前进行制冷量的测量尤为重要。
现有GM制冷机的冷头一般由生产厂家进行出厂前测试,一整套测试设备繁多且价格昂贵,购买方收货后往往没有很好的方法在装配前来检测GM制冷机的制冷量。
为了解决上述问题,本发明提供了一种用于GM制冷机制冷功率测量的装置,可以实现对GM制冷机在多种工作温况下的制冷量测量,且该测量装置结构简单、操作方便、成本低廉。
发明内容
本发明的目的就在于为了解决现有的GM制冷机测试设备价格昂贵,且购买方收货后没有很好的方法检测GM制冷机制冷量的问题,而提出一种用于GM制冷机制冷功率测量的装置,可以实现对GM制冷机在多种工作温况下的制冷量测量,且该测量装置结构简单、操作方便、成本低廉。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现:一种用于GM制冷机制冷功率测量的装置,包括测量平台和待测制冷机组件,所述待测制冷机组件纵向嵌设到所述测量平台内部,且所述待测制冷机组件通过螺栓和密封圈一连接固定安装在GM制冷机制冷量测量平台中;
所述测量平台包括测量真空容器、GM制冷机、第一辐射屏上盖板、第一辐射屏、第二辐射屏、绝热拉杆一和绝热拉杆二,所述第一辐射屏上盖板下方设置第一辐射屏,所述第一辐射屏内部设置有第二辐射屏,且所述第一辐射屏上盖板安装有绝热拉杆一,所述第一辐射屏上盖板与第二辐射屏之间设置有绝热拉杆二;
其中,所述测量真空容器包括真空容器上盖板、抽空口,加热器线引出口和温度信号线引出口,所述真空容器上盖板设置在所述测量真空容器上端顶部,且所述测量真空容器底部一端贯穿设置有抽空口,所述真空容器上盖板上方设置有加热器线引出口,和温度信号线引出口;
所述待测制冷机组件包括待测GM制冷机、线束引出口、连接螺栓、密封圈二和过渡法兰,所述待测制冷机组件顶部设置有待测GM制冷机,且所述待测制冷机组件上方水平套设有过渡法兰,且所述过渡法兰两端均安装有连接螺栓,所述待测制冷机两端上方均嵌设有密封圈二;
所述待测GM制冷机包括待测制冷机一级冷头、一级加热器、一级固定板、一级温度传感器、待测制冷机二级冷头、二级加热器、二级固定板、二级温度传感器,所述待测GM制冷机一级冷头中部设置有一级加热器,且所述一级加热器上方设置有一级固定板,所述待测制冷机一级冷头上设置有一级温度传感器,且所述待测制冷机二级冷头底部设置有二级固定板,所述待机制冷机二级冷头中部设置有二级加热器,且所述制冷机二级冷头上设置有二级温度传感器。
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