[发明专利]用于测试被测装置的天线的测试系统以及测试用户设备的方法

权利要求书

1.一种用于测试被测装置(DUT)的天线的测试系统，该测试系统包括：信道仿真器，其被配置成支持双向信道仿真并且被配置成在该信道仿真器的信道中具有衰落和不具有衰落的情况下仿真无线信道状况；

第一射频开关矩阵；

电波暗室，其经由该第一射频开关矩阵连接至该信道仿真器，并且包含多个探头和作为被测装置的用户设备；

第二射频开关矩阵；

基站仿真器，其经由该第二射频开关矩阵连接至该信道仿真器并且被配置成经由不具有衰落的该信道仿真器对该被测装置执行协议测试；以及

测试控制计算机，其包括存储指令的存储器和执行该指令的处理器，其中，该测试控制计算机控制该信道仿真器、该第一射频开关矩阵、该电波暗室中的该被测装置、该第二射频开关矩阵、该基站仿真器和基站，该基站经由该第一射频开关矩阵连接至该信道仿真器并且被配置成在没有衰落的情况下执行该协议测试之后经由具有衰落的该信道仿真器对该被测装置执行性能测试；

其中，该测试控制计算机向该信道仿真器加载该基站和该被测装置的天线方向图，

该信道仿真器提供该基站与该电波暗室中的该被测装置之间的双向信道仿真，并且通过加载该天线方向图仿真该被测装置的发射器天线效果和接收天线效果，使得形成该信道仿真器与该被测装置的天线之间的无线电缆连接，并且

在形成与该被测装置的该天线的该无线电缆连接之后，该基站和该被测装置建立连接并且在该信道仿真器的该信道改变时在动态波束成形下执行端到端测试。

2.权利要求1的测试系统，

其中，该基站仿真器测量该被测装置的该天线方向图作为该被测装置的所测量天线方向图连同测量该电波暗室中的该探头与该被测装置的天线之间的辐射信道矩阵H作为所测量辐射信道矩阵H，

在该信道仿真器中仿真该被测装置的该所测量天线方向图，

在该信道仿真器中应用该所测量辐射信道矩阵H的逆以形成无线电缆连接，

该基站包括N个射频端口，其中，N是大于1的自然数，

该被测装置包括M个天线，其中M是大于1的自然数，并且

该信道仿真器被配置成支持多达N x M个信道的双向信道仿真。

3.权利要求1的测试系统，其进一步包括：

该基站，其中，该基站被配置成同时控制具有多个天线元件的基站天线，该多个天线元件按子集分组，该子集各自形成在彼此不同的方向上辐射的波束。

4.一种在测试系统中测试作为被测装置(DUT)的用户设备的方法，该测试系统包括信道仿真器，该信道仿真器被配置成通过第一射频开关仿真器连接至基站仿真器和基站并且通过第二射频开关矩阵连接至电波暗室中的多个探头，该方法包括：

经由该第一射频开关矩阵将该基站仿真器连接至该信道仿真器，以及去激活该信道仿真器中的衰落；

经由该第二射频开关矩阵将该信道仿真器连接至该电波暗室中的该多个探头之一以便建立该基站仿真器与该电波暗室中作为被测装置的用户设备之间的连接；

针对该被测装置的不同位置测量该被测装置的下行链路天线方向图作为该被测装置的所测量下行链路天线方向图；

经由该第二射频开关矩阵将该信道仿真器连接至该多个探头中的若干个，该若干个是该被测装置上的发射器天线的数量的两倍或更多倍；

针对该被测装置的不同位置，由该基站仿真器的接收器测量该被测装置的发射器天线方向图作为该被测装置的所测量发射器天线方向图；

经由该第二射频开关矩阵将该信道仿真器连接至新的一组该多个探头，该新组是该被测装置的发射器天线的最大数量或该被测装置的接收天线的最大数量的两倍或更多倍；

经由该第一射频开关矩阵将该基站连接至该信道仿真器，激活该信道仿真器中的衰落，将基站天线方向图加载到该信道仿真器中，以及将该被测装置的该所测量下行链路天线方向图加载到该信道仿真器中；以及

连接该基站和该被测装置以及通过旋转该被测装置的该下行链路天线方向图在改变该被测装置的位置的同时将该被测装置的端到端吞吐量记录到该信道仿真器中。