[发明专利]基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器在审

专利信息
申请号: 201811603343.1 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109698279A 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 常晶晶;黄相平;林珍华;苏杰;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 田文英;王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 光电探测器 二维材料 钙钛矿 异质结 近红外波段 光探测 光学和电学性质 宽禁带半导体 暗电流 能力强 探测率 响应度 弱光 制备
【权利要求书】:

1.一种基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器,包括衬底(1)、传输层(2)、钙钛矿层(3)、金属电极(4);其特征在于,所述衬底(1)上依次制备传输层(2)和钙钛矿层(3)组成异质结;所述传输层(2)采用二维材料;所述的钙钛矿层(3)采用ABX3型钙钛矿材料。

2.根据权利要求1所述的基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器,其特征在于,所述的衬底(1)采用硅衬底或蓝宝石衬底中的任意一种。

3.根据权利要求1所述的基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器,其特征在于,所述的二维材料是指,石墨烯Graphene、黒磷中的任意一种。

4.根据权利要求1所述的基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器,其特征在于,所述的ABX3型钙钛矿材料的组分如下:

A采用MA+、FA+、Cs+、Rb+、(CsxMA1-x)+、(CsxFA1-x)+、(FAxMA1-x)+、(CsxFAyMA1-x-y)+中的任意一种离子;

B采用Pb2+、Sn2+、Ge2+、Pb1-xSnx2+中的任意一种离子;

X采用I-、Br-、Cl-、(Br1-xIx)-、(I1-xClx)-、(Br1-xClx)-、(I1-x-yBrxCly)-中的任意一种离子。

5.根据权利要求1所述的基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器,其特征在于,所述的钙钛矿层(3)的厚度为200nm~400nm。

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