[发明专利]基于天线测量系统的系统损耗测试方法

权利要求书

1.一种基于天线测量系统的系统损耗测试方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

方向损耗测试：在被测天线的辐射功率所在线路上接入额外线缆，并分别进行输入线路测试或者输出线路测试，根据两者的测试差值获取测试仪器到探头之间的线损以及探头到被测天线之间的空损；

功率损耗测试：在被测天线的发射功率所在线路上接入额外线缆，并分别进行输入线路测试或者输出线路测试，根据两者的测试差值获取被测天线到探头之间的空损以及探头到测试仪器之间的线损；

在所述方向损耗测试和所述功率损耗测试中计算获取空损和线损的具体步骤为：

S1，获取第一线路的线损L1：使用额外线缆将测试仪器的输出端口Port1与放置被测物处预留端口PortD相连接，控制仪器收发信号获取测试值L1；

S2，获取第二线路的线损L2：使用额外线缆将测试仪器的输入端口Port2与放置被测物处预留端口PortD相连接，控制仪器收发信号获取测试值L2；

S3，分别获取被测物处于接受状态和辐射状态下的损耗：将额外线缆连接到测试仪器的输入端口Port2与测试回路的输出端口之间，放置被测物处预留端口PortD处连接一个标准天线，控制仪器收发信号，分别获取标准天线处于接受状态下和标准天线处于辐射状的测试值L3、L4；

S4，L3-L1即为标准天线处于接受状态下输入线路的线损和空损，L4-L2即为标准天线处于辐射状输出线路的线损和空损。

2.根据权利要求1所述的基于天线测量系统的系统损耗测试方法，其特征在于，所述测试仪器为频谱仪或点源辐射器。