[发明专利]摄像组件的封装方法有效
申请号: | 201811605542.6 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN111370332B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 秦晓珊 | 申请(专利权)人: | 中芯集成电路(宁波)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/683;H01L21/768;H01L23/00;H01L23/31;H01L23/48;H01L25/16;H01L27/146 |
代理公司: | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 高静;李丽 |
地址: | 315800 浙江省宁波市北*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像 组件 封装 方法 | ||
一种摄像组件的封装方法,包括:提供第一承载基板,第一承载基板上临时键合有功能元件和感光单元,感光单元包括键合于第一承载基板上的感光芯片和贴装在感光芯片上的滤光片,感光芯片和功能元件均具有焊垫,且感光芯片和功能元件的焊垫均背向第一承载基板,滤光片露出的区域为塑封区;进行选择性喷涂处理,向塑封区喷洒塑封料且对塑封料进行固化处理,形成位于塑封区的塑封层,覆盖第一承载基板、感光芯片和功能元件且还覆盖滤光片侧壁;在塑封层靠近滤光片一侧形成再布线结构,电连接感光芯片和功能元件的焊垫;去除第一承载基板。本发明在提高封装效率的同时,提高摄像组件性能。
技术领域
本发明实施例涉及镜头模组领域,尤其涉及一种摄像组件的封装方法。
背景技术
随着人们生活水平的不断提高,业余生活也更加丰富,摄影逐渐成为人们记录出游以及各种日常生活的常用手段,因此具有拍摄功能的电子设备(例如:手机、平板电脑和照相机等)越来越多地应用到人们的日常生活以及工作中,具有拍摄功能的电子设备逐渐成为当今人们不可或缺的重要工具。
具有拍摄功能的电子设备通常都设有镜头模组,镜头模组的设计水平是决定拍摄质量的重要因素之一。镜头模组通常包括具有感光芯片的摄像组件以及固定于所述摄像组件上方且用于形成被摄物体影像的镜头组件。
而且,为了提高镜头模组的成像能力,相应需具有更大成像面积的感光芯片,且通常还会在所述镜头模组中配置电阻、电容器等被动元件以及外围芯片。
发明内容
本发明实施例解决的问题是提供一种摄像组件的封装方法,在提高封装效率的同时,提高摄像组件的性能。
为解决上述问题,本发明实施例提供一种摄像组件的封装方法,包括:提供第一承载基板,所述第一承载基板上临时键合有功能元件和感光单元,所述感光单元包括键合于所述第一承载基板上的感光芯片和贴装在所述感光芯片上的滤光片,所述感光芯片具有面向所述滤光片的焊垫,所述功能元件具有焊垫,且所述感光芯片和功能元件的焊垫均背向所述第一承载基板,所述滤光片露出的区域为塑封区;进行选择性喷涂处理,向所述塑封区喷洒塑封料,且对所述塑封料进行固化处理,形成位于所述塑封区的塑封层,所述塑封层覆盖所述第一承载基板、感光芯片和功能元件,且还覆盖所述滤光片的侧壁;在所述塑封层靠近所述滤光片的一侧形成再布线结构,电连接所述感光芯片的焊垫以及所述功能元件的焊垫;去除所述第一承载基板。
与现有技术相比,本发明实施例的技术方案具有以下优点:
本发明实施例采用选择性喷涂处理的方式形成塑封层,便于直接在需形成塑封层的区域形成所述塑封层,提高了封装效率、降低了形成塑封层的工艺复杂度,且有利于避免现有形成塑封层中感光芯片和功能元件受到注塑压力的问题,以防止感光芯片和功能元件发生变形或者破裂;并且,采用选择性喷涂处理的方式形成的塑封层内部应力小,提高了塑封层与感光芯片、滤光片以及功能元件之间的界面性能,塑封层与感光芯片、滤光片以及功能元件之间的粘附性较强,保证所述塑封层对感光芯片、滤光片以及功能元件具有良好的密封效果;综上,在提高封装效率的同时,提高了摄像组件的性能。
附图说明
图1至图13是本发明摄像组件的封装方法一实施例中各步骤对应的结构示意图;
图14至图17是本发明摄像组件的封装方法另一实施例中各步骤对应的结构示意图。
具体实施方式
目前,镜头模组的使用性能有待提高,且镜头模组难以满足镜头模组小型化、薄型化的需求。分析其原因在于:
传统的镜头模组主要由电路板、感光芯片、功能元件(例如:外围芯片)和镜头组件组装而成,且外围芯片通常贴装在外围主板上,感光芯片和功能元件之间相互分离;其中,所述电路板用于对所述感光芯片、功能元件和镜头组件起到支撑作用,且通过所述电路板实现所述感光芯片、功能元件和镜头模组之间的电连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造