[发明专利]一种荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法

权利要求书

1.一种荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：制备具有荧光纳米粒子的材料

利用定向凝固法、熔炼法或直接加入法将单个或多个荧光纳米粒子添加至材料表面或内部任意位置，制备具有荧光纳米粒子的材料；

步骤2：塑性变形实验前准备

先将已经添加荧光纳米粒子的材料制成标准塑性变形试样，准备完成后将试样置于带有相机的塑性变形试验机上，同时使用计算机软件并通过相机标定材料中荧光纳米粒子的具体初始位置；

步骤3：标定材料中荧光纳米粒子在塑性变形时的实时位置；

将带有荧光纳米粒子的样品在某种变形条件下进行塑性变形，在塑性变形过程中，使用计算机软件并通过相机标定荧光纳米粒子的实时位置状态，进而得出材料在塑性变形条件下的实时流变。

2.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，荧光纳米粒子包括量子点、高分子荧光纳米微球、复合荧光二氧化硅纳米粒子。

3.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，步骤1中，荧光纳米粒子的添加方法包括定向凝固法、熔炼法、直接加入法。

4.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，步骤3中，相机为高像素摄相机。

5.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，标准塑性变形试样尺寸为满足国标GB/T 228.1-2010标准。

6.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，塑性变形试验机为拉伸试验机或压缩试验机。

7.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，计算机软件为MaxTest软件。

8.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，标定的荧光纳米粒子为在同一平面上的荧光纳米粒子。

9.如权利要求1所述的荧光纳米粒子标定材料塑性变形流变的方法，其特征在于，具体操作步骤如下

包括：制备具有荧光纳米粒子的水晶泥、单轴压缩实验前准备、标定水晶泥在单轴压缩实验下荧光纳米粒子的实时位置；

步骤1：制备具有荧光纳米粒子的圆柱形水晶泥；在水晶泥成型的过程中，先将荧光纳米粒子通过导管直接加入至水晶泥中两处不同距离的位置，并且保证两处的荧光纳米粒子有着近乎相同的间距，之后冷却凝固成型，最后将水晶泥切割成圆柱形压缩试样；

步骤2：单轴压缩实验前准备；将具有荧光纳米粒子的圆柱形水晶泥试样置于带有高像素摄像机的单轴压缩试验机上，使用软件并通过相机标定水晶泥中的荧光纳米粒子具体初始位置；

步骤3：标定水晶泥中荧光纳米粒子在单轴压缩实验时的实时位置；在单轴压缩实验期间，使用计算机相关软件并通过相机标定水晶泥中荧光纳米粒子的实时位置，从而通过荧光纳米粒子的实时位置得出压缩实验期间水晶泥内荧光纳米粒子的实时流变形貌。