[发明专利]一种AlN纳米结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811609104.7 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN109802003B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 李国强;黄烈根;王文樑 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L31/09 分类号: H01L31/09;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 何淑珍;冯振宁
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 aln 纳米 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种AlN纳米结构,其特征在于,该结构自下至上依次为衬底、Ni金属层、AlN纳米片,所述AlN纳米片由AlN纳米棒水平堆叠而成,且AlN纳米片的形貌演变具有周期性;所述AlN纳米结构的制备过程包括如下步骤:

(1)通过电子束蒸发工艺,在衬底上蒸镀Ni金属层;

(2)通过等离子增强化学气象沉积法,在步骤(1)的Ni金属层上生长AlN纳米片。

2.根据权利要求1所述的一种AlN纳米结构,其特征在于,所述衬底为蓝宝石、Si、SiC、GaN、ZnO、LiGaO2、LaSrAlTaO6、Al或Cu。

3.根据权利要求1所述的一种AlN纳米结构,其特征在于,所述AlN纳米片的形状包括片状、环状或花瓣状。

4.制备权利要求1~3任一项所述的一种AlN纳米结构的方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)通过电子束蒸发工艺,在衬底上蒸镀Ni金属层;

(2)通过等离子增强化学气象沉积法,在步骤(1)的Ni金属层上生长AlN纳米片。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述Ni金属层的厚度为2-20 nm。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,步骤(2)所述AlN纳米片的厚度为300-2000nm。

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