[发明专利]一种AlN纳米结构及其制备方法有效
申请号: | 201811609104.7 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109802003B | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 李国强;黄烈根;王文樑 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 何淑珍;冯振宁 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 aln 纳米 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种AlN纳米结构,其特征在于,该结构自下至上依次为衬底、Ni金属层、AlN纳米片,所述AlN纳米片由AlN纳米棒水平堆叠而成,且AlN纳米片的形貌演变具有周期性;所述AlN纳米结构的制备过程包括如下步骤:
(1)通过电子束蒸发工艺,在衬底上蒸镀Ni金属层;
(2)通过等离子增强化学气象沉积法,在步骤(1)的Ni金属层上生长AlN纳米片。
2.根据权利要求1所述的一种AlN纳米结构,其特征在于,所述衬底为蓝宝石、Si、SiC、GaN、ZnO、LiGaO2、LaSrAlTaO6、Al或Cu。
3.根据权利要求1所述的一种AlN纳米结构,其特征在于,所述AlN纳米片的形状包括片状、环状或花瓣状。
4.制备权利要求1~3任一项所述的一种AlN纳米结构的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)通过电子束蒸发工艺,在衬底上蒸镀Ni金属层;
(2)通过等离子增强化学气象沉积法,在步骤(1)的Ni金属层上生长AlN纳米片。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述Ni金属层的厚度为2-20 nm。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,步骤(2)所述AlN纳米片的厚度为300-2000nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的