[发明专利]一种基于3D打印系统的缺陷监控方法、装置及终端设备在审
申请号: | 201811609206.9 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109816633A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 刘鹏宇;许建波;张海东;董银;龙雨;刘旭飞;陈根余;陈焱;高云峰 | 申请(专利权)人: | 大族激光科技产业集团股份有限公司;大族激光智能装备集团有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 袁文英 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 切片 零件缺陷 切片图像数据 打印系统 缺陷监控 校验 打印 获取目标 缺陷类型 终端设备 参数调整 分层切片 目标零件 数字模型 图像数据 主动修改 检测 保证 | ||
1.一种基于3D打印系统的缺陷监控方法,其特征在于,包括:
获取目标零件在第i层的校验切片,所述校验切片为所述目标零件的数字模型经分层切片处理后得到的平面数字切片,其中i为小于等于N的正整数,N为所述数字模型分层切片处理后得到的平面数字切片总层数;
获取所述目标零件在第i层进行打印时的零件切片图像数据;
根据所述第i层的校验切片,检测第i层所述零件切片图像数据的零件缺陷;
若存在零件缺陷,则获取所述零件缺陷的缺陷类型;
根据所述缺陷类型,调整第一参数调整曲线,对所述第i层零件切片进行缺陷修改,并获取修改后的第i层零件切片的图像数据,重新检测所述修改后的第i层零件切片图像数据的零件缺陷。
2.如权利要求1所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法,其特征在于,在获取目标零件在第i层的校验切片之前,包括:
获取所述数字模型,并获取所述数字模型经分层切片处理后得到的N层平面数字切片,其N为正整数。
3.如权利要求1所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法,其特征在于,获取所述目标零件在第i层进行打印时的零件切片图像数据之后,包括:
根据所述第i层的校验切片,检测第i层所述零件切片图像数据的尺寸误差;
若所述尺寸误差超过预设范围,则调整第二参数调整曲线,减少所述尺寸误差,并获取修改后的第i层零件切片的图像数据,重新检测所述修改后第i层零件切片图像数据的尺寸误差。
4.如权利要求1至3任一项所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法,其特征在于,所述零件缺陷无法通过所述第一参数调整曲线调整,或所述尺寸误差无法通过所述第二参数调整曲线调整时,停止所述目标零件在第i层的打印。
5.如权利要求1所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法,其特征在于,获取所述目标零件在第i层进行打印时的零件切片图像数据,包括:
根据三角测量原理,使用线激光对所述第i层零件切片进行由点及线、由线及面的扫描;
调整扫描点的数量和间距,获得所述第i层零件切片各表面的点云数据;
根据所述点云数据合成所述第i层零件切片的三维图像;
其中,所述三维图像为所述第i层零件切片的图像数据。
6.如权利要求1所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法,其特征在于,所述零件缺陷包括平面缺陷和立体缺陷。
7.一种基于3D打印系统的缺陷监控装置,其特征在于,包括:
校验切片获取模块,用于获取目标零件在第i层的校验切片,所述校验切片为所述目标零件的数字模型经分层切片处理后得到的平面数字切片,其中i为小于等于N的正整数,N为所述数字模型分层切片处理后得到的平面数字切片总层数;
图像数据获取模块,用于获取所述目标零件在第i层进行打印时的零件切片图像数据;
检测模块,用于根据所述第i层的校验切片,检测第i层所述零件切片图像数据的零件缺陷;
判断模块,用于若存在零件缺陷,则获取所述零件缺陷的缺陷类型;
缺陷修改模块,用于根据所述缺陷类型,调整第一参数调整曲线,对所述第i层零件切片进行缺陷修改,并获取修改后的第i层零件切片的图像数据,重新检测所述修改后的第i层零件切片图像数据的零件缺陷。
8.如权利要求7所述的基于3D打印系统的缺陷监控装置,其特征在于,还包括平面数字切片获取模块;
所述平面数字切片获取模块,用于获取所述数字模型,并获取所述数字模型经分层切片处理后得到的N层平面数字切片,其中N为正整数。
9.一种终端设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时,实现如权利要求1至6任一项所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法中的各个步骤。
10.一种存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,实现如权利要求1至6任一项所述的基于3D打印系统的缺陷监控方法中的各个步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大族激光科技产业集团股份有限公司;大族激光智能装备集团有限公司,未经大族激光科技产业集团股份有限公司;大族激光智能装备集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811609206.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。