[发明专利]口腔CT在审
申请号: | 201811609343.2 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN111374693A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 王飞;余文锐 | 申请(专利权)人: | 有方(合肥)医疗科技有限公司 |
主分类号: | A61B6/14 | 分类号: | A61B6/14;A61B6/03 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 口腔 ct | ||
1.一种口腔CT,其特征在于,包括:
X射线源,配置以发出X射线从而照射至投照体;
探测器,配置以检测经过投照体的X射线以生成X射线的数据;以及
转动机构,配置以能够使所述X射线源和所述探测器绕竖直方向的旋转轴线围绕投照体转动,
其中,所述探测器在竖直方向上是能够移动的。
2.如权利要求1所述的口腔CT,其特征在于,所述转动机构是下悬式转动机构并包括与所述X射线源连接的第一下悬臂和与所述探测器连接的第二下悬臂,其中,所述探测器在其背向所述X射线源的表面上设置有在竖直方向上的导轨,所述导轨上设有与其配合的导轨滑块,所述第二下悬臂与所述导轨滑块固定连接,所述第二下悬臂上设有用于固定所述探测器的固定件。
3.如权利要求1所述的口腔CT,其特征在于,所述转动机构是落地式转动机构并包括:
落地底座;
X射线源立柱,安装在所述落地底座上并能够在所述落地底座上转动,所述X射线源立柱用来安装所述X射线源;以及
探测器立柱,安装在所述落地底座上并能够在所述落地底座上转动,所述探测器立柱用来安装所述探测器。
4.如权利要求3所述的口腔CT,其特征在于,还包括探测器移动结构,与所述探测器立柱连接,所述探测器移动结构包括:
竖直导轨,固定于所述探测器在其背向所述X射线源的表面上,所述竖直导轨上设有与其配合的导轨滑块;以及
安装板,固定于所述探测器立柱上,并与所述导轨滑块固定连接,以使所述探测器能够在竖直方向上移动。
5.如权利要求4所述的口腔CT,其特征在于,所述探测器移动结构还包括电机,所述电机驱动所述探测器在竖直方向上移动。
6.如权利要求5所述的口腔CT,其特征在于,所述探测器移动结构还包括:
齿条,安装在所述探测器固定板的所述第二表面上,
其中,所述电机在其输出轴上设有直齿轮,所述直齿轮与所述齿条相啮合。
7.如权利要求5所述的口腔CT,其特征在于,还包括比较控制器,配置以将所述探测器检测的X射线的强度和所述X射线源发出的X射线的强度进行比较,并且在所述探测器检测的X射线的强度均小于所述X射线源发出的X射线的强度时,所述比较控制器控制所述电机以驱动所述探测器在所述导轨支架的导轨上移动。
8.如权利要求7所述的口腔CT,其特征在于,
所述比较控制器控制所述电机以驱动所述探测器向上移动,直到在所述探测器检测的X射线中存在强度等于所述X射线源发出的X射线的强度的X射线,或者直到所述探测器被移动到上极限位置,以及
所述比较控制器控制所述电机以驱动所述探测器向下移动,直到在所述探测器检测的X射线中存在强度等于所述X射线源发出的X射线的强度的X射线,或者直到所述探测器被移动到下极限位置。
9.如权利要求5所述的口腔CT,其特征在于,还包括比较控制器,配置以将所述探测器检测的X射线的强度和所述X射线源发出的X射线的强度进行比较,并且所述比较控制器还配置以识别所述探测器的部位及在所述部位检测到的X射线的强度,并且,
当所述比较控制器识别到所述探测器的上边缘部位检测的X射线的强度等于所述X射线源发出的X射线的强度时,所述比较控制器控制所述电机以驱动所述探测器向下移动,并识别所述探测器的下边缘部位检测的X射线的强度,当所述探测器的上边缘部位和所述探测器的下边缘部位检测的X射线的强度都等于所述X射线源发出的X射线的强度时,所述比较控制器控制所述电机停止移动所述探测器;或者,
当所述比较控制器识别到所述探测器的下边缘部位检测的X射线的强度等于X射线源发出的X射线的强度时,所述比较控制器控制所述电机以驱动所述探测器向上移动,并识别所述探测器的上边缘部位检测的X射线的强度,当所述探测器的上边缘部位和所述探测器的下边缘部位检测的X射线的强度都等于所述X射线源发出的X射线的强度时,所述比较控制器控制所述电机停止移动所述探测器。
10.一种成像方法,其特征在于,包括:
使用X射线源发出X射线从而照射至投照体;
使用探测器检测经过投照体的X射线以生成X射线的数据;以及
使所述X射线源和所述探测器绕竖直方向的旋转轴线围绕投照体转动,
其中,使用探测器检测经过投照体的X射线以生成X射线的数据包括:
使所述探测器在长度方向上移动一定距离之后来检测经过投照体的X射线以生成X射线的数据,其中,所述长度方向指代沿着所述探测器的表面的、与竖直方向垂直的方向。
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