[发明专利]光纤特性测量装置和光纤特性测量方法有效
申请号: | 201811609724.0 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109974973B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 古川靖 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01K11/322;G01B11/16 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 特性 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种光纤特性测量装置,包括:
输出调频连续光波的光源单元;
第一光分支单元,所述第一光分支单元将所述连续光分支成泵浦光和参考光;
第二光分支单元,所述第二光分支单元输出反向散射光,所述反向散射光是通过使所述泵浦光从待测光纤的一端入射而产生的,并且在所述待测光纤中受到布里渊散射;
检测单元,所述检测单元检测所述反向散射光和所述参考光的干涉光;
测量单元,所述测量单元通过使用从所述检测单元输出的检测信号来测量所述待测光纤的特性;以及
控制单元,所述控制单元控制所述光源单元,以与调制频率对应的调制周期的一个周期或半周期为单位改变所述连续光的调制频率。
2.根据权利要求1所述的光纤特性测量装置,
其中所述控制单元控制所述光源单元以改变所述连续光的调制幅度和调制频率。
3.根据权利要求2所述的光纤特性测量装置,
其中,所述控制单元改变所述调制频率和所述调制幅度,使得所述待测光纤的纵向上的空间分辨率对于每个单位是恒定的。
4.根据权利要求2所述的光纤特性测量装置,
其中,所述控制单元改变所述调制频率和所述调制幅度,使所述待测光纤的纵向上的空间分辨率对于每个单位彼此不同。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的光纤特性测量装置,
其中,所述控制单元改变所述调制频率和所述调制幅度,使得所述调制频率以及所述调制频率和所述调制幅度的组合对于每个单位彼此不同。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的光纤特性测量装置,还包括:
光门单元,在所述控制单元的控制下,所述光门单元使所述第一光分支单元和所述第二光分支单元之间的光路进入断开状态或连接状态。
7.根据权利要求6所述的光纤特性测量装置,
其中所述控制单元控制所述光门单元以将所述泵浦光成形为脉冲光,所述脉冲光的脉冲宽度为所述调制周期的一个周期或半个周期。
8.根据权利要求7所述的光纤特性测量装置,
其中,在所述第一光分支单元和所述第二光分支单元之间的所述光路处于断开状态的情况下,考虑到所述反向散射光的返回时间,通过以与调制频率对应的调制周期的一个周期或半个周期为单位改变所述连续光的调制频率,所述控制单元控制所述光源单元产生与所述反向散射光干涉的所述参考光。
9.根据权利要求8所述的光纤特性测量装置,
其中,在所述第二光分支单元使第一和第二泵浦光入射到所述待测光纤上的情况下,所述检测单元检测(i)对应于第一泵浦光、通过所述控制单元调制的脉冲光获得的反向散射光和(ii)对应于第一泵浦光、考虑到所述反向散射光的返回时间而由光源产生的所述参考光的两者的干涉光,和
通过使所述第二泵浦光入射到所述待测光纤,所述测量单元测量所述待测光纤的特性,而无需等待对应于第一泵浦光的所述反向散射光的返回。
10.根据权利要求8所述的光纤特性测量装置,
其中,所述控制单元使得在所述泵浦光成形为脉冲光的情况下的调制频率的改变顺序与在获得所述参考光的情况下的调制频率的改变顺序不同。
11.根据权利要求8所述的光纤特性测量装置,
其中,所述控制单元使得在所述泵浦光成形为脉冲光的情况下的调制频率的改变顺序和改变时机,分别与在获得所述参考光的情况下的调制频率的改变顺序和改变时机相同。
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