[发明专利]一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法

权利要求书

1.一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法，其特征在于包括以下步骤：

1)对西数硬盘中的永久缺陷表屏蔽区进行擦除；具体包括以下步骤：

第一步：发送工厂KEY到硬盘，使硬盘进入工厂模式，若发送失败，硬盘无法解锁固件模式，则返回“失败”；若发送成功，则不返回值，直接进入第二步；

第二步：发送硬盘工厂自定义命令，开始工厂级格式化，直到完成整个永久缺陷表屏蔽区的擦除；

2)对西数硬盘中的增长缺陷表屏蔽区进行擦除；

具体的，包括两种方法：一是对硬盘的编译器进行重建，然后使用标准API逐扇区覆盖写入数据的方法进行擦除；二是通过对硬盘进行工厂级格式化的方式进行擦除；

3)对西数硬盘中的固件区缺陷表屏蔽区进行擦除时，使硬盘进入工厂模式，然后将预设数据覆盖写入对应固件区缺陷表屏蔽区的扇区进行擦除。

2.如权利要求1所述的一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法，其特征在于：所述步骤2)中，对硬盘的编译器进行重建，然后使用标准API逐扇区覆盖写入数据的方法为：

第一步：发送工厂KEY使硬盘进入工厂模式，若发送失败，硬盘无法解锁固件模式，则返回“失败”；若发送成功，则不返回值，直接进行第二步；

第二步：发送硬盘工厂自定义指令对硬盘重新进行编译；

第三步：使用标准API,从LBA0～Lbamax逐扇区覆盖写入数据，完成对增长缺陷表屏蔽区的数据擦除。

3.如权利要求1所述的一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法，其特征在于：所述步骤2)中，通过对硬盘进行工厂级格式化的方式进行擦除的方法为：

第一步：发送工厂KEY使硬盘进入工厂模式，若发送失败，硬盘无法解锁固件模式，则返回“失败”，若发送成功，则直接进入第二步；

第二步：发送硬盘工厂自定义命令到硬盘，对硬盘进行工厂级格式化。

4.如权利要求1所述的一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法，其特征在于：所述步骤3)中，对西数硬盘中的固件区缺陷表屏蔽区进行擦除时，使硬盘进入工厂模式，然后将特定数据覆盖写入对应固件区磁道扇区进行擦除的方法，包括以下步骤：

第一步：发送工厂KEY使硬盘进入工厂模式，若发送失败，硬盘无法解锁固件模式，则返回“失败”；若发送成功，则直接进入第二步；

第二步：定位固件区缺陷表屏蔽区的地址，并读取固件区缺陷表的内容；

第三步：使固件区缺陷表屏蔽区的磁道处于可被写入状态，然后通过磁道填充固件区缺陷表屏蔽区的各扇区。