[发明专利]磁阻式随机存取存储器的布局图案有效

专利信息
申请号: 201811610931.8 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN111384234B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 朱中良;汤志贤;陈昱瑞;蔡雅卉;黄瑞民;戴觉非 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H10B61/00 分类号: H10B61/00;H10N50/10;H01L27/02;G11C11/16
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁阻 随机存取存储器 布局 图案
【说明书】:

发明公开一种磁阻式随机存取存储器的布局图案,其包含第一磁隧穿结(magnetic tunneling junction,MTJ)图案,设于基底上,第二MTJ图案设于该第一MTJ图案旁以及第一金属内连线图案设于该第一MTJ图案以及该第二MTJ图案之间,其中该第一MTJ图案、该第一金属内连线图案以及该第二MTJ图案交错排列。

技术领域

本发明涉及一种磁阻式随机存取存储器的布局图案。

背景技术

已知,磁阻(magnetoresistance,MR)效应是材料的电阻随着外加磁场的变化而改变的效应,其物理量的定义,是在有无磁场下的电阻差除上原先电阻,用以代表电阻变化率。目前,磁阻效应已被成功地运用在硬盘生产上,具有重要的商业应用价值。此外,利用巨磁电阻物质在不同的磁化状态下具有不同电阻值的特点,还可以制成磁性随机存储器(MRAM),其优点是在不通电的情况下可以继续保留存储的数据。

上述磁阻效应还被应用在磁场感测(magnetic field sensor)领域,例如,移动电话中搭配全球定位系统(global positioning system,GPS)的电子罗盘(electroniccompass)零组件,用来提供使用者移动方位等信息。目前,市场上已有各式的磁场感测技术,例如,各向异性磁阻(anisotropic magnetoresistance,AMR)感测元件、巨磁阻(GMR)感测元件、磁隧穿结(magnetic tunneling junction,MTJ)感测元件等等。然而,上述现有技术的缺点通常包括:较占芯片面积、制作工艺较昂贵、较耗电、灵敏度不足,以及易受温度变化影响等等,而有必要进一步改进。

发明内容

本发明一实施例公开一种磁阻式随机存取存储器的布局图案,其中,包含第一磁隧穿结(magnetic tunneling junction,MTJ)图案设于基底上,第二MTJ图案设于该第一MTJ图案旁以及第一金属内连线图案设于该第一MTJ图案以及该第二MTJ图案之间,其中该第一MTJ图案、该第一金属内连线图案以及该第二MTJ图案交错排列。

本发明又一实施例公开一种磁阻式随机存取存储器的布局图案,其中,包含第一金属内连线图案设于一基底上,其中该第一金属内连线图案包含一第一L形;以及磁隧穿结(magnetic tunneling junction,MTJ)图案设于该第一金属内连线图案旁,其中该MTJ图案包含二第一L形。

附图说明

图1为本发明一实施例的一MRAM元件的结构示意图;

图2为现行MRAM单元中MTJ与金属内连线的布局图案示意图;

图3为本发明一实施例MRAM单元中MTJ与金属内连线的布局图案示意图;

图4为本发明一实施例MRAM单元中MTJ与金属内连线的布局图案示意图。

主要元件符号说明

12     基底                    14    阵列区域

18     MRAM区域                20    逻辑区域

50     金属内连线              52    层间介电层

54     金属内连线             56    金属内连线结构

58     MTJ                    60    金属内连线

62     遮盖层                 64    金属间介电层

66     金属内连线结构         68    停止层

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