[发明专利]一种电性测试设备集中控制系统

说明书

本发明公开了一种电性测试设备集中控制系统，包括系统硬件单元和系统软件单元，所述系统软件单元设置在系统硬件单元内部，所述硬件单元设有工作台面、触屏显示器，所述系统软件单元包括数据收集反馈模块，电性测试设备测试数据并与数据收集反馈模块进行数据传输，数据收集反馈模块与服务器解析模块进行数据传输，服务器解析模块将数据传输到智能终端数据解析模块，并由智能终端数据解析模块传输到智能终端设备，通过硬件与软件的开发，使两者兼容适用，实现对电性测试设备集中控制及产品状态快速转换的功能，提高产品的测试效率，减少产线的产品周转周期。

技术领域

本发明属于电性测试领域，尤其涉及一种电性测试设备集中控制系统。

背景技术

由于内存产品市场竞争日益激烈，现有测试设备为单台独立运行，故设备间信息传输，集中控制整合等效率低，迫切需要开发集中控制系统对实时监控与数据收集整合至再利用。

在测试生产过程中，各设备实时状态需要单独查找设备信息获取，查询数据需要人工整合后再利用，导致设备数据利用效率低下；设备测试结果需要手动记录后，再输入电算系统中完成产品状态的变更，手动记录过程影响产线运营效率且存在MIX的风险，并可能造成产品质量问题。

在申请号为：CN201410117757.9，申请日为:2014032，名称为：一种晶圆级电性测试统计过程控制系统及方法的专利中，公开了一种晶圆级电性测试的统计过程控制系统及方法，该系统包括晶圆参数测试设备、晶圆测试传输设备、初始SPC数据整理和判断单元、数据存储和查询单元以及二级SPC数据整理和判断单元；由于二级SPC数据整理和判断单元独立于初始SPC数据整理和判断单元，其参照监控规则，对存储在数据存储和查询单元中的数据进行二次计算和判读，给制造执行系统提供控制指令。此发明不仅确保了监控数据来源的一致性，且能及时发现生产线上可能存在的问题，采取相应的措施，以避免这些问题的扩大，甚至造成产品的缺陷。

发明内容

本发明所解决的技术问题在于提供一种电性测试设备集中控制系统。

本发明的的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种电性测试设备集中控制系统，包括系统硬件单元和系统软件单元，所述系统软件单元设置在系统硬件单元内部，所述硬件单元设有工作台面2，工作台面2上方设有触屏显示器1，触屏显示器1与工作台面2之间设有产品放置口21，所述工作台面2下方正面设置有键盘抽屉3，键盘抽屉3下方设有物品放置区5和标签打印机抽屉4，工作台面2下方侧面设有散热风扇6，系统硬件单元背面设有电源及网络接口8，所述系统软件单元包括数据收集反馈模块，电性测试设备测试数据并与数据收集反馈模块进行数据传输，数据收集反馈模块与服务器解析模块进行数据传输，服务器解析模块将数据传输到智能终端数据解析模块，并由智能终端数据解析模块传输到智能终端设备。

优选的，智能终端数据解析模块设有异常提醒模块。

优选的，所述硬件单元由铁板钣金加工制成。

优选的，所述产品放置口21上方设置有扫码枪。

优选的，打印机抽屉4上设有标签出料口41。

优选的，系统硬件单元背面设有仓门7。

优选的，所述系统硬件单元底部设有固定脚，固定脚设有4个，分别设置在底部四角处。

本发明的有益效果：

通过硬件与软件的开发，使两者兼容适用，实现对电性测试设备集中控制及产品状态快速转换的功能，提高产品的测试效率，减少产线的产品周转周期；通过创新型逻辑开发实现数据自动收集，各状态区分显示，不良产品在状态转换时现场处理，提高效率的同时降低产品混料的风险。

附图说明

图1为一种电性测试设备集中控制系统的系统硬件单元的前视结构示意图。