[发明专利]一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法

权利要求书

1.一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)测量并采集测试样本在工作频段内的S参数值为样本数据集；

2)将工作频段划分为多个子频段，并计算某一S参数值在所有子频段内的均值mS；

3)根据步骤2)所得均值mS，建立分布统计模型S～F(θ,mS)，表示样本数据S参数值服从分布函数F，其中，θ为分布参数；

4)建立子频段电性能映射模型：

S＝N(f_n,mS,w)

其中，N表示建模所采用的连续映射模型，S表示模型输出的电性能参数，F_N表示仿真时信号流的工作频点，w是模型N中的各类系数参数；

5)根据步骤3)和步骤4)，建立工艺IP统计模型。

2.如权利要求1所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，还包括模型参数编码步骤，将模型中用于表征工艺IP特性的各类建模参数，通过编码进行封装。

3.如权利要求1所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，还包括：根据步骤5)所得的工艺IP统计模型，生成仿真模型包。

4.如权利要求1所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，步骤2)所述某一S参数值是指各样本之间离散较大的S参数值。

5.如权利要求1所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，步骤4)中，将各样本的子频段均值mS与全频段的S参数曲线对应，形成以频段划分的多个建模数据集，从而分别建立各子频段映射模型。

6.如权利要求5所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，所述连续映射模型N为三层或大于三层的多层神经网络及对应的BP训练算法。

7.如权利要求1所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，步骤5)中，所述工艺IP统计模型的可调参数包括所选频段的起始频点和截至频点、所选频段内的分布统计概率；根据所选频段，算法自动适配模型N，继而仿真计算出S参数在频段内的分布情况。

8.如权利要求2所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，所述模型参数编码方式为：

将步骤2)划分出的子频段、步骤3)建模得到的统计模型分布参数θ、某一S参数值在所有子频段内的均值mS、步骤4)所得的各子频段的连续映射模型N中的各类系数参数w，用编码模块封装，加入文件校验码，得模型参数文件。

9.如权利要求3所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，生成所述仿真模型包的方法为：

利用步骤5)所得的工艺IP统计模型，根据EDA仿真软件环境，增加必要的仿真信号前后处理模块，模型加载协议，再采用仿真软件兼容的程序代码编译生成定制化的调用程序接口文件，即得仿真模型包。

10.如权利要求9所述的一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，所述程序接口文件，用于仿真软件调用，具有供仿真用户进行分布参数设置和模型参数文件配置的接口。