[发明专利]一种检测触摸屏挠度的方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种检测触摸屏挠度的方法及装置，用于检测触摸屏的挠度。检测触摸屏挠度的装置包括：检测支架和检测仪；所述检测支架，用于固定待检测触摸屏；所述检测仪，用于向所述待检测触摸屏所在方向发送检测信号，并接收所述检测信号的反射信号；所述检测仪，还用于根据第一反射信号和第二反射信号确定所述待检测触摸屏的挠度；所述第一反射信号是所述待检测触摸屏未发生形变时的反射信号，所述第二反射信号所述待检测触摸屏发生最大形变时的反射信号。

技术领域

本发明涉及终端技术领域，尤其涉及一种检测触摸屏挠度的方法及装置。

背景技术

挠度是在受力或非均匀温度变化时，杆件轴线在垂直于轴线方向的线位移或板壳中面在垂直于中面方向的线位移。

在手机、平板等电子终端产品中，触屏幕的使用越来越广泛。针对触屏幕的性能，需要了解其刚度，即受力后的挠度。以手机、平板为例，受力后挠度越大，则触摸屏与显示屏撞击的可能性越大，那么，有可能带来触摸屏裂、显示屏裂等问题。如果知道了触屏幕的挠度，那么可以在设计阶段，留出相应的间隙，以免触摸屏受力后与显示屏相撞。因此，获得一个触屏幕在特定受力下的挠度，是很有必要的。

现有技术中，未有针对电子终端产品的触摸屏的挠度测试方法。

发明内容

本发明实施例提供一种检测触摸屏挠度的方法及装置，用于检测触摸屏的挠度。

一方面，本发明实施例提供一种检测触摸屏挠度的装置，包括：

检测支架和检测仪；

所述检测支架，用于固定待检测触摸屏；

所述检测仪，用于向所述待检测触摸屏所在方向发送检测信号，并接收所述检测信号的反射信号；

所述检测仪，还用于根据第一反射信号和第二反射信号确定所述待检测触摸屏的挠度；所述第一反射信号是所述待检测触摸屏未发生形变时的反射信号，所述第二反射信号所述待检测触摸屏发生最大形变时的反射信号。

进一步地，所述检测仪包括声波收发器和处理器；

所述声波收发器，用于向所述待检测触摸屏所在方向发送检测信号，并接收所述检测信号的反射信号；

所述处理器，用于根据第一反射信号和第二反射信号确定所述待检测触摸屏的挠度。

进一步地，所述声波收发器，还用于从多组反射信号确定所述第一反射信号和所述第二反射信号。

进一步地，所述待推帧图像的图像质量参数、所述已推帧图像的个数和最大推帧数量满足所述推帧策略前，还包括：

确定所述待推帧图像的图像质量大于预设图像质量阈值。

进一步地，所述装置还包括：施力装置；

所述施力装置，用于使固定在检测支架上的所述待检测触摸屏发生形变。

进一步地，所述检测仪位于所述检测支架的下方。

进一步地，所述施力装置包括升降结构和位于所述升降结构上的投掷物；

所述施力装置，用于将所述升降结构设置于设定高度时，释放所述投掷物，以使所述投掷物向所述待检测触摸屏施力。

进一步地，所述检测仪根据所述待检测触摸屏的材质确定发射信号的发射频率。

一方面，本发明提供一种检测触摸屏挠度的方法，包括：

所述检测仪向所述待检测触摸屏所在方向发送检测信号，并接收所述检测信号的反射信号；