[发明专利]电子器件和方法有效
申请号: | 201811620106.6 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN109996015B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 丁庆;阿尔珀·埃尔坎;沃德·范·德·腾佩尔 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H04N5/369 | 分类号: | H04N5/369;H04N5/378 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子器件 方法 | ||
本发明涉及电子器件和方法。电子器件包括电路,该电路被配置为在至少一个电容器上累积通过至少两个浮动扩散收集的电荷并且在第一累积阶段和第二累积阶段之间将电荷累积的方向从第一电流方向改变成第二电流方向。
技术领域
本公开内容大体上涉及电子器件(electronic devices,电子装置)的领域,具体地,涉及用于成像器件的电子电路。
背景技术
3D飞行时间(TOF)相机利用调制光源照射场景并且观测反射光。测量照射与反射之间的相移并且转化为距离。
在3D TOF相机的户外应用中,环境光产生的共模(CM)分量与被场景反射回的有用的主动光(active light)相比非常大。大的环境光可以使TOF传感器的像素饱和。诸如放大器等电子电路通常应被设计成最小化或消除共模效应,使得可以适当获得差模(DM)分量。
有各种方式被提出以用来消除环境光,例如,使用滤光器、缩短累积时间、放大阱电容器(well-capacitor)等。然而,这些方式通常成本高,需要大的芯片面积从而产生大的像素间距,并且需要高速读出操作从而导致高功耗等。
美国专利申请US 2014/0043595 A1提出了一种在多次累积(multi-integrations)之间通过反并联连接(APC=“反并联耦接”)两个累积电容器来消除CM分量的方法。DM分量积聚在电容器对中并且可以在多次累积中的某些时刻之后一次读出。
尽管存在用于消除CM分量的技术,但是通常期望找到用于消除电子电路中的CM分量的替代技术或更好的技术。
发明内容
根据第一方面,本公开内容提供了一种包括电路的电子器件,该电路被配置为在至少一个电容器上累积(integrate,积分)由至少两个浮动扩散收集的电荷,并且在第一累积阶段和第二累积阶段之间将电荷累积的方向从第一电流方向改变成第二电流方向。
根据又一方面,本公开内容提供了一种方法,该方法包括:在至少一个电容器上累积由至少两个浮动扩散收集的电荷,并且在第一累积阶段和第二累积阶段之间将电荷累积的方向从第一电流方向改变成第二电流方向。
其他方面在从属权利要求、以下描述以及附图中进行阐述。
附图说明
通过有关于附图的示例方式来说明实施方式,在附图中:
图1是根据第一实施方式的基于2FD APC的CMR电路的示意图;
图2a是根据第一实施方式的具有APC阶段的基于2FD APC的CMR电路的CLK示图;
图2b是根据第一实施方式的没有APC阶段的基于2FD APC的CMR电路的CLK示图;
图3是根据第一实施方式的在重置阶段中的基于2FD APC的CMR电路的示意图;
图4是根据第一实施方式的在第一累积阶段中的基于2FD APC的CMR电路的示意图;
图5是根据第一实施方式的在APC阶段中的基于2FD APC的CMR电路的示意图;
图6是根据第一实施方式的在第二累积阶段中的基于2FD APC的CMR电路的示意图;
图7是根据第一实施方式的在读出阶段中的基于2FD APC的CMR电路的示意图;
图8示意性地描述了电容器的基于APC的CMR操作的原理;
图9是根据第二实施方式的基于4FD APC的CMR电路的示意图;
图10是根据第二实施方式的基于4FD APC的CMR电路的CLK示图;
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