[发明专利]基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法及系统

说明书

本发明公开了一种基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法及系统，包括步骤将数据通路中的数据端口分为数据传输类端口与控制类端口；建立基于数据类型的边界值知识库，输入每个数据传输类端口的数据类型得到边界值集合；输入每个控制类端口的位宽通过约束求解器求得合法值域形成合法值域集合；将边界值集合中的每个边界值与控制类端口的合法值域集合中每个合法值正交组合，得到覆盖数据通路边界情况的测试向量。本发明充分利用数据端口的功能属性和数据类型，通过建立边界值知识库、合法约束值域、边界值集合与合法值域集合进行正交组合，生成覆盖数据通路边界情况的测试向量，实现了数据通路电路设计验证的完备性与高效性。

技术领域

本发明涉及集成电路设计验证领域，特别涉及一种基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法及系统。

背景技术

模拟验证依旧是集成电路设计验证过程中主要的验证手段。模拟验证的过程是对待测设计的输入端加载大量测试向量从而观察待测设计的行为是否符合预期的功能规范。数据通路的电路设计往往具有较大位宽的数据端口，这些数据端口对应的巨大合法值域，这些合法值域所组成的巨大验证空间使得面向数据通路生成高效完备的测试向量变得困难：由于验证空间巨大，使用验证空间全遍历的方法产生测试向量无法保证在有效时间空间内完成数据通路的验证；而采用在验证空间中随机生成测试向量的方法并不能够保证完全覆盖验证空间的边界情况，而边界情况往往是电路设计环节最容易出错的地方，这就造成了验证的不完备与不充分。因此，面向数据通路的电路设计产生高效测试向量非常困难。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：针对现有技术的上述问题，提供一种基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法及系统，本发明能够提高数据通路电路设计验证的完备性与高效性。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法，实施步骤包括：

S1.将数据通路中除时钟端口、重置端口以外的所有数据端口按照功能属性划分为数据传输类端口与控制类端口；

S2.建立基于数据类型的边界值知识库，向该边界值知识库输入步骤S1中所述每个数据传输类端口的数据类型，得到每个数据传输类端口的边界值集合；.输入步骤S1中每个控制类端口的位宽通过约束求解器求得每个控制类端口的合法值域，从而形成控制类端口的合法值域集合；

S3. 分别将步骤S2中数据传输类端口的边界值集合中的每个边界值与控制类端口的合法值域集合中的每个合法值进行正交组合，得到覆盖数据通路边界情况的测试向量。

所述步骤S1中的数据端口为输入端口。

所述步骤S1中的数据端口为输出端口。

所述步骤S2中的数据类型包括单/双精度浮点、8/16/32/64位有符号/无符号整数、n位二进制数类型。

所述步骤S2中的约束求解器包括布尔可满足性引擎的求解器、二叉判决树引擎的求解器或基于约束逻辑编程系统的约束求解器。

本发明还提供一种基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成系统，包括计算机设备，所述计算机设备被编程以执行本发明前述基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法的步骤；或者所述计算机设备的存储介质中存储有被编程以执行本发明前述基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法的计算机程序。

本发明还提供 一种存储介质，所述存储介质中存储有被编程以执行本发明前述基于知识库的覆盖数据通路边界情况的测试向量生成方法的计算机程序。

和现有技术相比，本发明具有下述优点：