[发明专利]一种测试平台及一种电子装置的测试方法

权利要求书

1.一种测试平台，所述测试平台用于测试电子装置的特定功能，其特征在于，所述测试平台包括：工作台、电源控制器、第一开关、主板、第二开关和触发盖板，所述电源控制器与所述工作台连接，所述第一开关与所述电源控制器电连接，以控制所述电源控制器的通电状态，所述主板与所述工作台连接，且与所述电源控制器电连接，所述主板上的特定电路引出有接线端子，所述接线端子用于与所述电子装置电连接，所述第二开关与所述主板电连接，以控制所述特定电路的通电状态，所述触发盖板与所述工作台铰接，所述触发盖板用于旋转至所述第二开关处压合所述第二开关，以使所述特定电路处于通电状态；

其中，所述工作台具有相对设置的上表面和下表面，所述工作台开设有连通所述上表面和所述下表面的第二通孔，所述第二开关安装于所述第二通孔内，所述触发盖板凸出设置有抵触部，所述抵触部能够随所述触发盖板旋转插至于所述第二通孔内，以压合所述第二开关。

2.根据权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述测试平台还包括支架，所述支架安装在所述上表面上，所述触发盖板与所述支架铰接，所述触发盖板在旋转至与所述工作台的上表面平齐时压合所述第二开关。

3.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述触发盖板包括第一盖板部和第二盖板部，所述第一盖板部和所述第二盖板部的连接处与所述支架铰接，其中，所述第一盖板部用于旋转至所述第二开关处，以压合所述第二开关，所述第二盖板部用于在所述第一盖板部向远离所述第二开关的方向旋转时抵接于所述工作台，以阻止所述第一盖板部的进一步旋转。

4.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述工作台开设有连通所述上表面和所述下表面的第一通孔，所述主板安装于所述工作台的下表面上，所述接线端子从所述第一通孔穿出。

5.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述触发盖板具有依次相邻的第一面、第二面和第三面，所述第一面和所述第三面分别与所述支架铰接，在所述第二开关为压合状态时，所述第二面朝向所述上表面，所述触发盖板贯穿所述第一面、所述第二面和所述第三面开设有抓槽，所述抓槽用于提供所述触发盖板被抓取旋转时的避让空间。

6.根据权利要求5所述的测试平台，其特征在于，所述第一面和/或者所述第三面凸出设置有手柄，所述手柄用于提供所述触发盖板被旋转时的抓取位。

7.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述工作台的上表面开设有容置槽，所述测试平台还包括缓冲件，所述缓冲件安装于所述容置槽内，所述触发盖板在旋转至与所述工作台的上表面平齐时同时压合所述缓冲件。

8.一种电子装置的测试方法，其特征在于，所述测试方法基于权利要求1至7任一项所述的测试平台进行测试所述电子装置，所述测试方法包括：

闭合所述第一开关，所述电源控制器为所述主板通电；

所述电子装置与所述接线端子扣接；

旋转所述触发盖板至其上凸起设置的抵接部插至于所述工作台上的第二通孔内，以闭合所述第二开关，所述特定电路导通，从而使所述电子装置通电；

检测所述电子装置的特定功能是否正常。