[发明专利]一种PCIEx4的散热测试负载卡及散热测试方法

权利要求书

1.一种PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，包括：

电子负载电路，包括功率半导体器件，用于根据功耗设定参考电压输出热量，以模拟主控芯片散发热量；

指示灯，用于指示所述PCIEx4的散热测试负载卡是否正常工作；

散热片，紧贴于所述电子负载电路的功率半导体器件表面。

2.根据权利要求1所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，所述功率半导体器件包括Direct-FET金属封装的绝缘栅型场效应管，配合所述散热片和PCB板进行双面散热，并且所述绝缘栅型场效应管包括源极、漏极和栅极，所述绝缘栅型场效应管的漏极连接至第一供电电压。

3.根据权利要求2所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，所述电子负载电路包括：

第一基准稳压源，用于提供所述功耗设定参考电压；

运放电路，包括同相输入端、反相输入端和输出端，其中，所述功耗设定参考电压输入至所述运放电路的同相输入端，所述运放电路的输出端连接至所述绝缘栅型场效应管的栅极；

采样电阻，其中，所述绝缘栅型场效应管的源极连接所述采样电阻的第一端，所述采样电阻的第二端接地；

电流采样电路，用于采集所述采样电阻的第一端和第二端之间的电压，并输出至所述运放电路的反相输入端；

其中，当所述运放电路的反相输入端电压小于所述运放电路的同相输入端电压时，所述运放电路加大输出电压值；当所述运放电路的反相输入端电压大于所述运放电路的同相输入端电压时，所述运放电路减小输出电压值，使得所述运放电路的输出端上的电压保持动态平衡。

4.根据权利要求3所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，所述电子负载电路还包括：

温度采集电路，包括负温度系数电阻，并且获取所述负温度系数电阻的电压；

电压比较器，包括同相输入端、反相输入端和输出端，其中，所述电压比较器的同相输入端连接至所述温度采集电路；

第二基准稳压源，连接至所述电压比较器的反相输入端以提供温度设定参考电压；

控制开关电路，所述电压比较器的输出端连接至所述控制开关电路；

其中，当所述缘栅型场效应管的温度高于第一设定温度时，所述负温度系数电阻的阻值降低，当所述电压比较器的同相输入端处的电压小于所述温度设定参考电压时，所述电压比较器输出置低，所述控制开关电路工作并将所述功耗设定参考电压拉低至0V，使得所述绝缘栅型场效应管截止，并且所述指示灯显示过温保护状态；当所述绝缘栅型场效应管的温度降低至第二设定温度时，所述电压比较器输出拉高，所述绝缘栅型场效应管导通，所述指示灯切换至正常工作状态。

5.根据权利要求4所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，当所述指示灯显示正常工作状态时，所述第一颜色灯亮，并且第二颜色灯灭；当所述指示灯显示过温保护状态时，所述第一颜色灯灭，并且第二颜色灯亮。

6.根据权利要求2所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，所述PCIEx4的散热测试负载卡还包括接线端子，外部直流电源连接至所述接线端子，以为所述绝缘栅型场效应管的漏极提供所述第一供电电压。

7.根据权利要求2所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，所述PCIEx4的散热测试负载卡通过金手指为所述绝缘栅型场效应管的漏极提供所述第一供电电压。

8.根据权利要求3所述的PCIEx4的散热测试负载卡，其特征在于，

所述电子负载电路还包括拨码开关，连接至所述第一基准稳压源和所述运放电路之间，为所述运放电路提供多个不同的所述功耗设定参考电压，以对应多个不同的功耗等级。

9.一种PCIE卡的散热测试方法，应用权利要求1-8任一项所述的PCIEx4的散热测试负载卡。