[发明专利]一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统

说明书

本发明属于芯片技术领域，公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括：获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。相应的，本发明还公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统。实施本发明，可以规避之前人工手动查找测试标准的所有弊端，报告质量较好，成本较低，可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，特别涉及一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统。

背景技术

DDR，即DDR SDRAM，已广泛应用于电子产品中。目前，业内硬件测试工程师对DDR芯片测试标准的查询，都是需要通过手动查找DDR芯片datasheet(数据表)来实现，具体步骤为：硬件测试工程师要完成一个DDR芯片测试项目，然后根据对应料号DDR芯片的datasheet(数据表)查找所需测试标准，如果实际应用DDR时钟频率和DDR芯片的datasheet(数据表)时钟频率刚好吻合，可以手动将具体的测试标准查找梳理填写到test data(测试数据)表格中的Criteria(条件)中；还有另外一种情况是在实际应用的DDR时钟频率和datasheet(数据表)中DDR的时钟频率不匹配，需要重新查找与实际时钟DDR时钟匹配的DDRdatasheet(数据表)，以上两种情况再操作上都会耗费巨大人力和资源成本，有时候大量数据比对，会出现数据层次错位，造成判据异常，该步骤则需要反复执行，人为性工作费时，繁琐，易出错，报告质量不佳。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足，提供一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统，可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找。

本发明的目的通过下述技术方案实现：

一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括，

获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；

计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；

根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；

生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。

进一步的，在生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告之前，还包括：

如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。

进一步的，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。

进一步的，所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。

进一步的，在所述获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率之前，还包括：

获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；

在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。

本发明的方法可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找；避免了人为性工作的费时、繁琐、易出错，操作简单快捷，报告质量较好，成本较低。

相应的，本发明还提供一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，包括：