[发明专利]一种像素级分类方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201811627681.9 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN111382759A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 梁德澎;梁柱锦;张壮辉;王俊东;张树业 申请(专利权)人: 广州市百果园信息技术有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06N3/04
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 511400 广东省广州市番禺区南村镇万博*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 像素 分类 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种像素级分类方法,其特征在于,包括:

将原始图片输入编码器,得到下采样特征图,下采样特征图尺寸为原始图片尺寸的1/2N,1≤N≤3;

将所述下采样特征图输入解码器,得到上采样特征图,上采样特征图尺寸与原始图片尺寸相同;

将所述上采样特征图输入分类器得到所述原始图片中每个像素的分类;

所述编码器包括M个下采样模块和U个残差模块,第M-1下采样模块和第M下采样模块之间连接T个所述残差模块,第M下采样模块之后连接U-T个所述残差模块,M=N;

所述将原始图片输入编码器,得到下采样特征图,包括:

所述原始图片依次经过M-2个下采样模块,得到第一中间特征图,第一中间特征图尺寸为原始图片尺寸的1/2M-2

所述第一中间特征图依次经过第M-1下采样模块、T个残差模块、第M下采样模块和U-T个残差模块,得到所述下采样特征图。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述解码器包括M个上采样模块和V个残差模块,第一上采样模块和第二上采样模块之间连接V个所述残差模块;

所述将所述下采样特征图输入解码器,得到上采样特征图,包括:

所述下采样特征图依次经过第一上采样模块和V个残差模块,得到第二中间特征图,第二中间特征图尺寸为原始图片尺寸的1/2M-1

所述第二中间特征图依次经过M-1个上采样模块,得到所述上采样特征图。

3.根据权利要求1所述的方法,所述下采样模块包括第一卷积层和池化层,所述第一卷积层和所述池化层并联,每个下采样模块的输出为所述第一卷积层的输出和所述池化层的输出在输出通道上的拼接,每个第一卷积层的输出为通过分组卷积和通道交换得到的。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述残差模块包括两个第二卷积层和两个第三卷积层,第一个第二卷积层、第一个第三卷积层、第二个第二卷积层和第二个第三卷积层依次连接,两个第二卷积层和两个第三卷积层形成非对称卷积层,每个第二卷积层和每个第三卷积层的输出为通过分组卷积和通道交换得到的。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,第一上采样模块和第二上采样模块的输出为通过分组卷积和通道交换得到的。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,第M下采样模块之后连接的U-T个残差模块中第二卷积层和第三卷积层为空洞卷积层。

7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,第二卷积层和第三卷积层之间依次连接批规范化层和非线性激活层,第二个第三卷积层之后依次连接批规范层和非线性激活层。

8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述上采样模块为转置卷积层。

9.根据权利要求2-8任一所述的方法,其特征在于,M=N=3,U=13,T=5,V=1。

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