[发明专利]一种电阻测试装置及系统

说明书

本发明涉及电子产品测试领域，具体涉及一种电阻测试装置。所述电阻测试装置包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。本发明还涉及一种电阻测试系统。通过设置设有测试槽的治具，第一测试机构，以及压紧机构，压紧机构将放置于治具内的待测产品压向第一测试机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且第一测试端可穿设测试槽与待测产品接触，实现对待测产品正面电阻的测试，提高产品电阻测试的自动化程度，降低人工成本，提高测试效率，且结构简单。

技术领域

本发明涉及电子产品测试领域，具体涉及一种电阻测试装置及系统。

背景技术

随着电子产品智能化及轻薄化的发展趋势，要求电子产品既要小巧轻薄，又要触摸灵敏、显示清晰及功能丰富，因而对电子产品主板的要求也越来越高，电子产品主板的测试工作相应的更为复杂，测试周期也更长。为了保证电子产品主板的生产质量，需要对电子产品内部的一些部位的连通性能进行测试。通常地，通过测试电子产品内部的电阻来测试电子产品内部一些部位的连通性能。

对电子产品内部的电阻进行测试时，一般都是由人工完成，人工测试耗时长，测试效率低，且人工成本高。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电阻测试装置及系统，克服现有的使用人工测试电子产品内部电阻测试耗时长，测试效率低，且人工成本高的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种电阻测试装置，包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，所述第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。

本发明的更进一步优选方案是：所述电阻测试装置还包括对压紧机构将待测产品压向第一测试机构进行缓冲的缓冲机构。

本发明的更进一步优选方案是：所述缓冲机构至少包括两与治具抵靠或连接的第一支撑件，与第一支撑件对应的套筒，以及分别与第一支撑件和套筒抵靠或连接的弹性件，所述第一支撑件通过弹性件部分穿设套筒并活动设置于套筒中。

本发明的更进一步优选方案是：所述第一测试机构还包括测试座，所述第一测试端设于测试座上且与测试槽的位置相对应。

本发明的更进一步优选方案是：所述电阻测试装置还包括至少一设于治具下方且用于测试产品侧边电阻的第二测试机构，所述第二测试机构设有一第二测试端且第二测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。

本发明的更进一步优选方案是：所述第二测试机构还包括基座，所述第二测试端滑动设置于基座上。

本发明的更进一步优选方案是：所述第一测试端设有双通道分布的多个测试探针。

本发明的更进一步优选方案是：所述第一测试端设有双通道分布的八个探针，每一通道设置四个探针。

本发明的更进一步优选方案是：所述测试探针的测试头为梅花锥形结构。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种电阻测试系统，包括所述的电阻测试装置，以及与电阻测试装置的第一测试机构和第二测试机构电连接的阻抗测试仪。