[发明专利]一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811637295.8 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109709426B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 杜晓磊;张彦杰;姚玉锁;李宝兵;郎小华;李明刚;李征;田宏伟;李金欣 申请(专利权)人: 国家电网有限公司;平高东芝(廊坊)避雷器有限公司;全球能源互联网研究院有限公司;国网冀北电力有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R19/00
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立;孟鹏超
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 容量 mov 用电 阻片柱 电流 分布 试验 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法,其特征在于,包括:

获取电阻片中内部晶体的微观结构信息以及电阻片中内部晶体的含量信息;

根据获取的二维沃罗诺网络生成方法对所述内部晶体的微观结构信息以及所述内部晶体的含量信息进行二维沃罗诺处理,生成二维沃罗诺网络图;

根据所述二维沃罗诺网络图,对内部晶体对电阻片电流分布的影响进行分析,生成电流分布与内部晶体之间的特性曲线;

将所述特性曲线发送至用户终端;

所述根据获取的二维沃罗诺网络生成方法对所述内部晶体的微观结构信息以及所述内部晶体的含量信息进行二维沃罗诺处理,生成二维沃罗诺网络图的步骤,包括:

获取种子;

根据获取的无序度规则信息,将所述种子铺设在获取的区域内,生成二维沃罗诺网络图;

所述获取电阻片中内部晶体的微观结构信息以及电阻片中内部晶体的含量信息的步骤,包括:

获取电阻片中第一晶体的微观结构信息以及电阻片中包覆在所述第一晶体周边的第二晶体的含量信息。

2.根据权利要求1所述的一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法,其特征在于,所述第一晶体为氧化锌晶粒,所述第二晶体为添加剂。

3.根据权利要求1所述的一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法,其特征在于,所述内部晶体对电阻片电流分布的影响包括:不同电压梯度下的电流分布及引起电流集中的原因、晶界层势垒电压的均匀性对电流分布的影响、晶粒几何尺寸的均匀性对电流分布的影响以及晶界层非线性系数的均匀性对电流分布的影响。

4.根据权利要求1所述的一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法,其特征在于,所述电阻片为氧化锌非线性电阻片。

5.根据权利要求1所述的一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法,其特征在于,所述对所述二维沃罗诺网络图进行分析内部晶体对电阻片电流分布的影响,生成电流分布与内部晶体之间的特性曲线的步骤,包括:

对所述电阻片电流分布进行计算,生成电流分布特征信息;

根据所述电流分布特征信息与所述内部晶体的对应关系,生成电流分布与内部晶体之间的特性曲线。

6.一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验装置,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于执行所述计算机程序,实现如权利要求1至5中任一项所述的一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法。

7.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有指令,当计算机读取所述指令时,使所述计算机执行如权利要求1至5中任一项所述的一种大容量MOV用电阻片柱电流分布试验方法。

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