[发明专利]用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置有效

专利信息
申请号: 201811637828.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109540339B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 张金强;宣越健;贾盛洁;毕登辉 申请(专利权)人: 中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司
主分类号: G01K13/024 分类号: G01K13/024;G01J5/00;G01W1/02
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅
地址: 100029 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 分析 高空 气球 平台 大气 温度 测量 辐射 影响 装置
【权利要求书】:

1.一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱(1),在所述载荷舱(1)的上表面设置上端影响因素测量单元,在载荷舱(1)的下表面设置下端影响因素测量单元,还包括与载荷舱(1)下表面连接的悬挂温度测量单元,所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接;

所述上端影响因素测量单元包括用于测量短波辐射的上短波辐射表(2)、用于测量长波辐射的上长波辐射表(6)以及用于测量上端表面温度的上温度传感器(4);所述下端影响因素测量单元包括用于测量短波辐射的下短波辐射表(15)、用于测量长波辐射的下长波辐射表(7)以及用于测量下端表面温度的下温度传感器(13),所述悬挂温度测量单元包括连接导线(8)以及位于所述连接导线(8)端部的悬挂温度传感器(9),悬挂温度传感器(9)通过连接导线(8)与数据采集存储处理单元电连接;

所述数据采集存储处理单元能采集并存储上短波辐射表(2)测量的上端表面短波辐射值、上长波辐射表(6)测量的上端表面长波辐射值、上温度传感器(4)测量的上端表面温度值、下短波辐射表(15)测量的下端表面短波辐射值、下长波辐射表(7)测量的下端表面长波辐射值、下温度传感器(13)测量的下端表面温度值以及悬挂温度传感器(9)测量的悬挂温度值,且能根据数据采集存储处理单元所采集并存储的上端表面短波辐射值、上端表面长波辐射值、上端表面温度值、下端表面短波辐射值、下端表面长波辐射值、下端表面温度值以及悬挂温度值能确定辐射对高空气球平台大气温度测量的影响状态;

在所述载荷舱(1)的上端表面设置与上温度传感器(4)适配的上轴流风机(3),通过上轴流风机(3)能抽动空气流动吹过上温度传感器(4)的表面;

在载荷舱(1)的下端表面设置与下温度传感器(13)适配的下轴流风机,通过所述下轴流风机能抽动空气流动并吹过下温度传感器(13)的表面,上轴流风机(3)、下轴流风机均采用抽气工作模式;

还包括GPS模块,所述GPS模块与数据采集存储处理单元电连接,数据采集存储处理单元通过GPS模块的定位信息能确定太阳高度角以及太阳方位角。

2.根据权利要求1所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:在所述载荷舱(1)内还设置用于供电的电池,所述电池以及数据采集存储处理单元均通过硬质泡沫包裹后置于载荷舱(1)内,数据采集存储处理单元包括数据采集处理器以及与所述数据采集处理器电连接的数据存储器,所述数据采集处理器与数据存储器之间通过RS232串口连接。

3.根据权利要求1所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:所述上温度传感器(4)、下温度传感器(13)以及悬挂温度传感器(9)均采用珠状温度传感器。

4.根据权利要求1所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:所述载荷舱(1)呈正方体状,在载荷舱(1)的侧面设置贯通载荷舱(1)侧面的侧面窗口(12)。

5.根据权利要求1所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:所述连接导线(8)的表面具有导线表面抗辐射涂层。

6.根据权利要求1所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:所述载荷舱(1)的表面设置载荷舱抗辐射涂层。

7.根据权利要求1或5所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:所述连接导线(8)的长度为2米~3米。

8.根据权利要求1所述的用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其特征是:所述上温度传感器(4)、下温度传感器(13)以及悬挂温度传感器(9)上均涂覆有测温抗反射涂层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司,未经中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811637828.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top