[发明专利]一种化学机械抛光液及其应用有效
申请号: | 201811639167.7 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN111378382B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 宋凯;姚颖;荆建芬;蔡鑫元;汪国豪;李恒 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
代理公司: | 北京大成律师事务所 11352 | 代理人: | 李佳铭;王芳 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化学 机械抛光 及其 应用 | ||
1.一 种用于阻挡层和超低介电常数材料ULK抛光的化学机械抛光液,包含研磨颗
粒、金属缓蚀剂、络合剂、氧化剂,阴离子型氟碳表面活性剂和水;
所述阴离子型氟碳表面活性剂的通式为CnF2n+1R,其中1≤n≤10,R为-COOM、
-SO3M或-OPO3M,M为H、K或NH4;所述阴离子型氟碳表面活性剂的质量
百分比含量为0.0001%-0.2%;
所述研磨颗粒选自二氧化硅、三氧化二铝、二氧化铈、掺杂铝的二氧化硅、聚甲
基丙烯酸甲酯中的一种或多种;所述研磨颗粒的质量百分比含量为1-20%;所述
研磨颗粒的粒径为20~150nm;
所述金属缓蚀剂为唑类化合物;
所述络合剂选自草酸、丙二酸、丁二酸、柠檬酸、甘氨酸、2-膦酸基丁烷-1,2,
4-三羧酸、羟基亚乙基二膦酸、乙二胺四亚甲基膦酸、多氨基多醚基亚甲基膦酸、氨基三亚甲基膦酸中的一种或多种;
所述氧化剂选自过氧化氢、过氧乙酸,过硫酸钾、过硫酸铵中的一种或多种;
所述化学机械抛光液的PH值≤7。
2.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述阴离子型氟碳表面活性剂的质量百分比含量为0.001%-0.1%。
3.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述研磨颗粒的质量百分比含量为2-10%。
4.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述研磨颗粒的粒径为30~120nm。
5.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述唑类化合物选自苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑、1,2,4-三氮唑、3-氨基-1,2,4-三氮唑、4-氨基-1,2,4-三氮唑、5-甲基-四氮唑中的一种或多种。
6.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述金属缓蚀剂的质量百分比含量为0.001~2%。
7.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述金属缓蚀剂的质量百分比含量为0.01%-1%。
8.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述络合剂的质量百分比含量为0.01%-2%。
9.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述络合剂的质量百分比含量为0.05%-1%。
10.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述氧化剂的质量百分比含量为0.01%-1%。
11.根据权利要求1所述化学机械抛光液,其特征在于,
所述化学机械抛光液的PH值为2-5。
12.一种如权利要求1-11任一项所述的化学机械抛光液在阻挡层和超低介电常数材料ULK抛光中的应用。
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