[发明专利]一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置在审
申请号: | 201811639597.9 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109489752A | 公开(公告)日: | 2019-03-19 |
发明(设计)人: | 陈继革;成正东;陈妙谋;徐斌;李敬阳 | 申请(专利权)人: | 无锡洋湃科技有限公司 |
主分类号: | G01F1/86 | 分类号: | G01F1/86;G01F1/88;G01F7/00 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 诸炳彬 |
地址: | 214187 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 管道通孔 闪烁晶体 射线探测 射线 质量计量装置 多相流量 支撑架 探测器 外壁 测量 射线测量装置 射线探测装置 全截面测量 放射源 放射装置 降低系统 流体管道 使用寿命 性能下降 周向分布 组件包括 半衰期 本征 减小 垂直 老化 | ||
1.一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:包括支撑架(1),所述支撑架(1)中心设有供流体管道通过的管道通孔(2),所述管道通孔(2)的外壁上设有若干射线探测组件(3),所述射线探测组件(3)安装在支撑架(1)上并沿垂直于管道通孔(2)的周向分布;所述射线探测组件(3)包括闪烁晶体(31)和探测器(32),闪烁晶体(31)位于管道通孔(2)的外壁与探测器(32)之间。
2.根据权利要求1所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述的闪烁晶体(31)为含有镥-176元素的闪烁晶体。
3.根据权利要求1或2所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述的闪烁晶体(31)为薄片状闪烁晶体或塑料闪烁晶体。
4.根据权利要求1或2所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述的探测器(32)为光电倍增管或半导体硅探测器。
5.根据权利要求1所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述的闪烁晶体(31)与探测器(32)之间通过耦合剂固定。
6.根据权利要求1所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述的每组射线探测组件(3)之间通过金属件(4)隔绝。
7.根据权利要求6所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述金属件(4)的材料为钨基合金。
8.根据权利要求1、2、5-7所述的一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置,其特征在于:所述的射线探测组件(3)沿管道通孔(2)方向分布有多层。
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