[发明专利]漫反射率检测装置与方法

权利要求书

1.一种漫反射率检测装置，其特征在于，包括：

单色光产生器，用于产生单色光，并将所述单色光投射到漫反射平面上；

漫反射平面，包含已知漫反射率的漫反射平面和待检测的漫反射平面，用于接收所述单色光产生器产生的单色光，并产生漫反射光束；

积分球，用于对所述漫反射光束进行多次反射，使得所述漫反射光束的能量均匀化；

光接收器，用于测量经所述积分球多次反射后的漫反射光束的信号值。

2.根据权利要求1所述的漫反射率检测装置，其特征在于，所述积分球上开设有第一窗口、第二窗口和第三窗口；所述单色光产生器的光束出射口对准放置在所述第一窗口处、所述光接收器的光束接收口对准放置在所述第二窗口处、所述漫反射平面对准放置在所述第三窗口处。

3.根据权利要求2所述的漫反射率检测装置，其特征在于，所述漫反射平面的面积不小于所述第三窗口的孔径值。

4.根据权利要求1所述的漫反射率检测装置，其特征在于，所述单色光产生器为激光器、单色仪或分光光度计。

5.根据权利要求1所述的漫反射率检测装置，其特征在于，所述光接收器为功率计或者光电二极管。

6.根据权利要求1所述的漫反射率检测装置，其特征在于，所述单色光产生器为光栅单色光产生装置，从光的发射方向依次包括光源、光栅、第一透镜、狭缝、第二透镜、光纤和第三透镜；所述光栅单色光产生装置还包括转动台，用于转动所述光栅，使得不同波长的单色光能够投射到漫反射平面上。

7.根据权利要求6所述的漫反射率检测装置，其特征在于，所述光栅为大量等宽等间距的平行狭缝构成的光学元件，包含平面光栅和/或凹面光栅。

8.权利要求1-7任一所述的漫反射率检测装置的漫反射率检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：控制所述单色光产生器使其产生的单色光投射到已知漫反射率为R₀的平面上产生漫反射光束，并记录所述光接收器测得的光信号值V₀；

S2：计算参比值K＝R₀/V₀；

S3：控制所述单色光产生器使其产生的单色光投射到待检测平面上产生漫反射光束，并记录所述光接收器测得的光信号值V_x；

S4：根据V_x/R_x＝V₀/R₀，计算得到待测平面的漫反射率R_x＝K·V_x。