[发明专利]托盘及包含其的芯片测试装置在审
| 申请号： | 201811640959.6 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN111381149A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 王建祥;欧阳志武 | 申请（专利权）人： | 希姆通信息技术（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 薛琦;杨东明 |
| 地址： | 200335 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 托盘 包含 芯片 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种托盘，其特征在于，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。
2.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽的底面设有通孔。
3.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上。
4.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽的底面设有八边形的通孔，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上并形成所述通孔的四条边。
5.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的侧面设有向内凹进的第一凹陷部。
6.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的四个角均设有向内凹陷的第二凹陷部。
7.一种芯片测试装置，其特征在于，其包括：
测试箱，所述测试箱用于测试芯片；
如权利要求1-6中任一项所述的托盘；
传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及
扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；
其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。
8.如权利要求7所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：读卡器，所述读卡器设于所述传送机构的上游并能够识别所述芯片的型号。
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