[发明专利]芯片封装在审

专利信息
申请号: 201811642012.9 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111384000A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 赵丽;贾忠中;马军华;王玉 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 孟德栋
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 芯片 封装
【说明书】:

发明涉及元器件封装技术领域,尤其涉及一种芯片封装,为方形扁平无引脚封装,其包括:焊盘,包括散热焊盘和设置在散热焊盘周围的电极触点焊盘;芯片,附着于散热焊盘的上表面,并与电极触点焊盘电连接;封装体,包覆密封焊盘和芯片,焊盘的下表面暴露于封装体的表面;热变形构件,在受热时会产生热变形,其设置在封装体上,且热变形构件与焊盘分别设置在芯片的两侧。热变形构件对器件的热变形有应力矫正效果:受热时,热变形构件与散热焊盘上下设置,使应力抵消或部分抵消,消除或减小了变形。器件可以避免在SMT组装过程或者长期工作中受热产生的变形,保护了焊点,延长器件应用寿命;不占用板上布局面积,不增加SMT流程,具有明显优势。

技术领域

本发明涉及元器件封装技术领域,尤其涉及一种芯片封装。

背景技术

电子产品自始至终都是朝着更小的尺寸、更轻的质量、更快的速度、更高的频率、更低的成本、更高的可靠性方向演进。QFN器件凭借更薄的厚度、无引脚设计、优异的散热性能,非常低的阻抗和自感,在5G产品的高速或微波设计中大量应用。

QFN是一种无引脚封装,呈正方形或矩形,封装底部中央位置有一个大面积裸露的焊盘,具有导热作用,这个焊盘是内部的厚铜框架结构的一部分,也是QFN具有优异散热性能的原因。但是这种厚铜框架结构却在SMT焊接、或者长期工作时,会受环境温度或功率变化的影响而发生动态的热变形,致使焊点受到较大拉应力作用,会严重劣化焊点的寿命,影响高可靠产品,包括通讯产品的应用。

业内在解决这个问题时,一般有两种方案:一是增大四角封装焊盘,或者NC(non-connect)焊盘;二是在SMT焊接时在四周点胶固定。方案一简单有效,不增加现有生产流程,但是现在QFN也不断向高密度发展,很多QFN器件已经没有空间在四角增大焊盘或NC焊盘。方案二将器件与PCB相对固定,即使产生了应力,很难作用到焊点上,因此解决QFN焊点拉断失效问题也非常有效,但是点胶增加了PCBA的加工流程,且点胶后的QFN返修困难。

发明内容

为了解决上述技术问题,以期提供一种可矫正热变形的QFN的封装结构,以降低QFN封装在焊接或工作过程中产生的拉应力,减少器件失效,本申请提供了如下技术方案。

本申请实施例提供了一种芯片封装。

根据本申请实施例提供的介质移相器,其包括:

焊盘,其包括散热焊盘和设置在所述散热焊盘周围的电极触点焊盘;

芯片,其附着于所述散热焊盘的上表面,并与所述电极触点焊盘电连接;

封装体,包覆密封所述焊盘和芯片,所述焊盘的下表面暴露于所述封装体的表面;

热变形构件,在受热时会产生热变形,其设置在所述封装体上,且所述热变形构件与所述焊盘分别设置在所述芯片的两侧。

根据本申请实施例提供的QFN封装,封装体上设置的热变形构件对器件的热变形有应力矫正效果:当器件受热时,芯片与散热焊盘因CTE不匹配产生应力,同时热变形构件也因受热变形产生应力,顶部的热变形构件与底部的散热焊盘上下设置,使应力抵消或部分抵消,消除或减小了变形。采用这种应力矫正的结构设计,器件可以避免在SMT组装过程或者长期工作中受热产生的变形,保护了焊点,延长器件应用寿命;这种结构上的优化,相比现有技术的解决方案,不占用板上布局面积,不增加SMT流程,具有明显优势。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本发明的实施例,并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

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