[发明专利]液晶面板暗点化修复方法

说明书

本发明提供一种液晶面板暗点化修复方法。该液晶面板暗点化修复方法首先在显示异常子像素中的色阻上进行开孔，以暴露出该显示异常子像素的TFT层，再切断暴露出的显示异常子像素的TFT层使该显示异常子像素呈暗点化，可以防止修复显示异常子像素时造成色阻产生异常暗点，从而避免修复失败。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板暗点化修复方法。

背景技术

薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是目前液晶显示装置(Liquid CrystalDisplay，LCD)和有源矩阵驱动式有机电致发光显示装置(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode，AMOLED)中的主要驱动元件，直接关系平板显示装置的显示性能。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片(ColorFilter，CF)基板之间灌入液晶分子，并在两片基板上分别施加像素电压和公共电压，通过像素电压和公共电压之间形成的电场控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线透射出来产生画面。液晶显示面板成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、刻蚀及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

液晶面板的有效显示区域由多个像素阵列组合而成，非显示区域主要是由外围金属布线构成。请参阅图1，现有液晶面板的阵列基板一般包括呈阵列式排布的多个像素电极100’、对应每一行像素电极100’设置的沿横向延伸的扫描线200’、对应每一列像素电极100’设置的沿纵向延伸的数据线300’以及对应每个像素电极100’设置的薄膜晶体管400’。其中，扫描线200’用于提供开关扫描信号，数据线300’用于提供数据信号；薄膜晶体管400’的栅极401’连接相应的扫描线200’，源极402’连接相应的数据线300’、漏极403’通过一通孔404’连接相应的像素电极100’。

在阵列基板的生产过程中，由于生产工序复杂，受生产工艺及厂房环境的影响，可能会导致像素有异物或膜破等情况，这样会在显示画面中出现人眼比较容易识别出的显示缺陷，严重影响画面显示质量。现有的修复技术通常是对显示异常的像素做暗点化处理来实现简单修复。如图1所示，传统的液晶面板暗点化修复手段，是先在X’处切断显示异常子像素所对应的薄膜晶体管400’的源极402’与数据线300’的连接，再在Y’处切断显示异常子像素所对应的薄膜晶体管400’的漏极403’与像素电极100’的连接，使显示异常子像素呈现暗态。然而对于彩膜设置在阵列基板侧的COA(Color Filter On Array)型产品，由于色阻层覆盖在像素电极100’下方，通常色阻层只在通孔404’处进行开孔，在通过激光切断X’处和Y’处时，会造成绿色色阻产生异常暗点，从而导致修复失败。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶面板暗点化修复方法，可以防止修复显示异常子像素时造成色阻产生异常暗点，从而避免修复失败。

为实现上述目的，本发明提供了一种液晶面板暗点化修复方法，包括如下步骤：

步骤S1、提供一液晶面板，所述液晶面板包括呈阵列式排布的多个子像素，每个子像素包括TFT层以及设于所述TFT层上的色阻；

步骤S2、检测出液晶面板的显示异常子像素；

步骤S3、在该显示异常子像素中的色阻上进行开孔，以暴露出该显示异常子像素的TFT层；