[发明专利]一种CT探测器位置校准方法及其系统

说明书

本发明公开了一种CT探测器位置校准方法及其系统，所述方法包括步骤：将采集的体模的投影数据进行重建得到重建图像；提取重建图像的伪影并判断伪影区域的伪影强度是否小于阈值；当伪影强度大于阈值时，校正探测器的位置并继续重建得到重建图像；当伪影强度小于阈值时，校准结束。由于采用伪影确定对应的探测器模块，并通过校正探测器模块的位置，进行图像校准，去除伪影。本发明是在软件上的算法来处理数据。在现有产品影像的基础上处理数据，来改善图像质量。本发明涉及的模体简单成本低，校准方法操作容易，校准时间快。

技术领域

本发明涉及医学成像技术领域，尤其涉及的是一种CT探测器位置校准方法及其系统。

背景技术

在CT系统中，通常采用解析算法对图像进行重建，但是解析算法对系统的几何模型要求比较高。商用CT一般采用第三代设计，根据探测器划分，可分为等角和等距设计。在等角的情形探测器由大量的探测器模块组成，这些模块被放置在以X射线源点为圆心的圆弧上。等距探测器是一个平面，采样间隔均匀。机械精度不能严格满足重建算法模型的要求，生产和安装过程中会出现一定的几何偏差，由该几何偏差所导致的重建伪影称为几何伪影。几何伪影会降低重建图像质量，影响医生对病情的诊断，降低了医疗质量和安全。

现有技术中，对高精度要求的探测器误差校正方法主要包括光学测量和精确标定体模解析测量。这两种方法设备昂贵，体模加工成本高，操作困难，带来昂贵生产成本和人力成本。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种CT探测器位置校准方法及其系统，旨在解决现有技术中探测器误差校正方法复杂且成本高的问题。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种CT探测器位置校准方法，其中，包括步骤：

将采集的体模的投影数据进行重建得到重建图像；

提取重建图像的伪影并判断伪影区域的伪影强度是否小于阈值；

当伪影强度大于阈值时，校正探测器的位置并继续重建得到重建图像；

当伪影强度小于阈值时，校准结束。

所述CT探测器位置校准方法，其中，所述提取重建图像的伪影并判断伪影区域的伪影强度是否小于阈值步骤具体包括：

采用标准差作为伪影强度的指标；

提取重建图像中的伪影，并获得伪影区域；

计算伪影区域的标准差，并判断标准差是否小于阈值；

所述标准差采用如下公式计算：

其中，std表示标准差，F表示重建图像，M和N分别为感兴趣区域的长度和宽度，i和j为正整数，u为区域均值。

所述CT探测器位置校准方法，其中，所述当标准差大于阈值时，校正探测器的位置并继续重建得到重建图像步骤具体包括：

当标准差大于阈值时，通过搜索算法修正伪影对应的探测器模块的几何位置；

采用插值方法对投影数据进行校准；

对校准的投影数据继续重建得到重建图像。

所述CT探测器位置校准方法，其中，所述步骤当标准差大于阈值时，通过搜索算法修正伪影对应的探测器模块的几何位置之前还包括：

根据伪影与体模的相切点确定伪影对应的探测器模块。

所述CT探测器位置校准方法，其中，所述插值方法为线性插值、非线性插值或高阶插值。